STO薄膜非线性介电性质研究
第一章 引言 | 第8-16页 |
1.1 铁电材料简介 | 第8-10页 |
1.2 SrTiO3材料的性质 | 第10-14页 |
1.2.1 相变 | 第10-12页 |
1.2.2 介电特性及应用 | 第12-14页 |
1.3 STO薄膜与块材 | 第14页 |
1.4 本论文主要研究任务 | 第14-16页 |
第二章 实验方法 | 第16-28页 |
2.1 STO薄膜制备方法 | 第16-19页 |
2.1.1 PLD基本原理 | 第16-18页 |
2.1.2 PLD的技术优势 | 第18-19页 |
2.2 STO薄膜微观结构表征方法 | 第19-23页 |
2.2.1 STO薄膜的原子力显微分析 | 第19-21页 |
2.2.2 STO薄膜的X射线衍射分析 | 第21-23页 |
2.3 STO薄膜压控性能的表征 | 第23-28页 |
2.3.1 STO薄膜压控电容器 | 第23-25页 |
2.3.2 STO薄膜厚度的测量 | 第25页 |
2.3.3 STO薄膜电性能的测试 | 第25-28页 |
第三章 STO薄膜的PLD生长工艺讨论 | 第28-40页 |
3.1 基片温度对STO薄膜的影响 | 第28-31页 |
3.2 激光能量密度的影响 | 第31-33页 |
3.3 脉冲频率的影响 | 第33-34页 |
3.4 氧分压对沉积STO薄膜的作用 | 第34-37页 |
3.5 脉冲激光沉积STO薄膜工艺参数的优化 | 第37-40页 |
第四章 STO薄膜的微观结构对其介电性能的影响 | 第40-55页 |
4.1 界面平整度的影响 | 第40-44页 |
4.1.1 Au/STO/YBCO平板电容器 | 第40-43页 |
4.1.2 Au/STO/Nb:STO平板电容器 | 第43-44页 |
4.2 氧空位对STO薄膜介电性能的影响 | 第44-47页 |
4.3 退火 | 第47-50页 |
4.4 应力对STO薄膜电性能的影响 | 第50-53页 |
4.5 小结 | 第53-55页 |
第五章 结论 | 第55-56页 |
参考文献 | 第56-60页 |
致 谢 | 第60页 |