| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第一章 引言 | 第7-12页 |
| 1.1 集成电路测试综述 | 第7-8页 |
| 1.2 I.MX35 多媒体应用处理器 | 第8页 |
| 1.3 FREESCALE IMX35 多媒体处理器的特点 | 第8-10页 |
| 1.4 课题内容、背景和意义 | 第10页 |
| 1.5 论文结构 | 第10-12页 |
| 第二章 IDD 测试原理 | 第12-25页 |
| 2.1 测试术语 | 第12-14页 |
| 2.2 开短路测试（OPEN-SHORT TEST）---最基本的DC 测试 | 第14-17页 |
| 2.2.1 开短路测试测试目的 | 第14页 |
| 2.2.2 开短路测试测试方法 | 第14-17页 |
| 2.3 IDD 参数测试 | 第17-25页 |
| 2.3.1 Gross IDD 测试原理 | 第18-20页 |
| 2.3.2 静态IDD（ IDD Static Current）测试原理 | 第20-22页 |
| 2.3.3 动态IDD（ IDD Dynamic Current）测试原理 | 第22-25页 |
| 第三章 AGILENT 93000 PIN SCALE 测试系统 | 第25-31页 |
| 3.1 PIN SCALE 测试系统概述 | 第25-26页 |
| 3.2 PIN SCALE 93K 硬件环境 | 第26-27页 |
| 3.3 PIN SCALE 93K 软件环境 | 第27-31页 |
| 3.3.1 测试所需的设置文件 | 第28页 |
| 3.3.2 完整的测试体系 | 第28-31页 |
| 第四章 IM35 的IDD 生产测试 | 第31-58页 |
| 4.1 iMX35 的IDD 电路设计说明规范 | 第31-32页 |
| 4.2 iMX35 的 IDD 泄漏电流生产测试 | 第32-39页 |
| 4.3 IDD 漏电流的生产测试结果 | 第39-43页 |
| 4.4 IDD 数据分析和LIMIT 的最初设定 | 第43-48页 |
| 4.4.1 Lab126 问题反馈 | 第43-44页 |
| 4.4.2 对客户返回的同期产品进行电流分布分析及研究 | 第44-46页 |
| 4.4.3 增加产品进行电流分布分析及研究 | 第46-48页 |
| 4.5 电流的生产评估和更正 | 第48-58页 |
| 4.5.1 室温测试条件下，对电流测试进行评估 | 第48-52页 |
| 4.5.2 在室温条件下调整电流测试标准满足客户要求的研究 | 第52-54页 |
| 4.5.3 高温85C 测试条件下，对电流测试进行评估 | 第54-58页 |
| 第五章 总结与展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
