| 目录 | 第3-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 隐写及隐写分析 | 第8-9页 |
| 1.2 隐写的研究现状 | 第9-12页 |
| 1.2.1 关于编码的隐写 | 第9-10页 |
| 1.2.2 保持图像统计特征的隐写 | 第10页 |
| 1.2.3 自适应隐写 | 第10-11页 |
| 1.2.4 存在的问题 | 第11-12页 |
| 1.3 本文的工作 | 第12-13页 |
| 第二章 结合像素交换与菱形编码的图像隐写 | 第13-26页 |
| 2.1 基于图论的隐写：Steghide | 第13-15页 |
| 2.1.1 提取过程 | 第13页 |
| 2.1.2 嵌入过程 | 第13-15页 |
| 2.2 菱形编码 | 第15-16页 |
| 2.3 结合像素交换和菱形编码的隐写方法：EDSteg | 第16-19页 |
| 2.3.1 顶点的建立 | 第16-17页 |
| 2.3.2 边的构造 | 第17-18页 |
| 2.3.3 超边的构造 | 第18-19页 |
| 2.3.4 嵌入过程 | 第19页 |
| 2.3.5 提取过程 | 第19页 |
| 2.4 实验结果及分析 | 第19-25页 |
| 2.4.1 嵌入效率 | 第19-20页 |
| 2.4.2 视觉效果 | 第20-21页 |
| 2.4.3 抗检测性能 | 第21-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 基于直方图方差的自适应隐写 | 第26-36页 |
| 3.1 嵌入噪声 | 第26页 |
| 3.2 嵌入过程对图像直方图的影响 | 第26-28页 |
| 3.3 直方图方差特征 | 第28-29页 |
| 3.4 基于直方图方差的自适应隐写 | 第29-32页 |
| 3.4.1 原理 | 第29-31页 |
| 3.4.2 嵌入过程 | 第31-32页 |
| 3.4.3 提取过程 | 第32页 |
| 3.5 实验结果及分析 | 第32-35页 |
| 3.5.1 抗检测性能 | 第32-34页 |
| 3.5.2 视觉质量及失真 | 第34-35页 |
| 3.6 本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 结合STC编码与直方图方差的隐写 | 第36-42页 |
| 4.1 概述 | 第36页 |
| 4.2 STC编码简介 | 第36-37页 |
| 4.2.1 失真函数 | 第36-37页 |
| 4.2.2 STC编码 | 第37页 |
| 4.3 结合STC编码与直方图方差的隐写 | 第37-38页 |
| 4.3.1 嵌入步骤 | 第38页 |
| 4.3.2 提取步骤 | 第38页 |
| 4.4 实验结果 | 第38-41页 |
| 4.4.1 抗检测能力 | 第38-40页 |
| 4.4.2 视觉质量及直方图失真 | 第40-41页 |
| 4.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第五章 总结与展望 | 第42-45页 |
| 5.1 总结 | 第42-43页 |
| 5.2 展望 | 第43-45页 |
| 参考文献 | 第45-49页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第49-50页 |
| 致谢 | 第50-51页 |