| 中文摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第一章 引言 | 第8-14页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.3 关于FPGA设计的综述 | 第10-12页 |
| 1.4 本文研究目的与内容 | 第12-14页 |
| 第二章 荧光免疫层析试条定量检测原理 | 第14-26页 |
| 2.1 荧光免疫层析原理 | 第14-17页 |
| 2.1.1 荧光产生原理 | 第14-15页 |
| 2.1.2 免疫层析原理 | 第15-16页 |
| 2.1.3 免疫层析试纸条结构 | 第16-17页 |
| 2.2 定量检测原理及其生化噪声 | 第17-20页 |
| 2.2.1 定量检测原理 | 第17-19页 |
| 2.2.2 荧光试条生化噪声 | 第19-20页 |
| 2.3 荧光免疫层析检测装置 | 第20-25页 |
| 2.3.1 激发光源的选取 | 第20-22页 |
| 2.3.2 光路的设计 | 第22-24页 |
| 2.3.3 图像传感器 | 第24-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 荧光免疫层析试条图像的分割 | 第26-35页 |
| 3.1 荧光试条检测线和控制线的提取方法 | 第26-27页 |
| 3.2 荧光试条图像的预处理 | 第27-28页 |
| 3.2.1 图像灰度线性增强 | 第27-28页 |
| 3.3 荧光试条图像灰度值漂移 | 第28-30页 |
| 3.4 荧光试条图像检测线和控制线的预分割 | 第30-32页 |
| 3.5 荧光试条图像灰度值漂移的估计 | 第32-34页 |
| 3.6 荧光试条图像检测线提取 | 第34页 |
| 3.7 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 荧光试条分割方法在FPGA上的实现 | 第35-56页 |
| 4.1 VHDL语言的简介 | 第35-36页 |
| 4.2 FPGA设计定量检测系统框架 | 第36-39页 |
| 4.2.1 定量检测系统的硬件架构 | 第36-37页 |
| 4.2.2 有限状态机的介绍 | 第37-38页 |
| 4.2.3 图像并行处理 | 第38-39页 |
| 4.3 图像线性增强的FPGA实现 | 第39-41页 |
| 4.4 预分割算法的FPGA实现 | 第41-45页 |
| 4.5 区域生长起点的选取 | 第45-46页 |
| 4.6 平面拟合算法的FPGA设计 | 第46-55页 |
| 4.6.1 平面拟合算法中定点数转浮点数设计 | 第48-50页 |
| 4.6.2 浮点数运算器设计 | 第50-55页 |
| 4.7 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 荧光图像定量检测特征值提取分析 | 第56-63页 |
| 5.1 荧光免疫层析定量检测仪 | 第56-57页 |
| 5.1.1 光电反射式免疫层析定量检测仪 | 第56-57页 |
| 5.1.2 图像识别式荧光定量检测仪 | 第57页 |
| 5.2 荧光信号特征量选取 | 第57-60页 |
| 5.2.1 用均值法对提取的荧光信号进行定量检测 | 第57-59页 |
| 5.2.2 用总和法对提取的荧光信号进行定量检测 | 第59-60页 |
| 5.3 荧光试条图像定量检测及其定量检测效果的分析 | 第60-62页 |
| 5.4 本章小结 | 第62-63页 |
| 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 个人简历 | 第69页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第69页 |