摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第12-28页 |
1.1 研究背景 | 第12-16页 |
1.1.1 金属锑和纳米锑粉的用途 | 第12-13页 |
1.1.2 制备方法及存在问题 | 第13-16页 |
1.2 低共熔溶剂 | 第16-25页 |
1.2.1 低共熔溶剂概述 | 第16页 |
1.2.2 低共熔溶剂的物理化学性质 | 第16-21页 |
1.2.3 低共熔溶剂的应用概况 | 第21-25页 |
1.3 国内外研究动态 | 第25-26页 |
1.4 本文的主要研究内容 | 第26-28页 |
第二章 实验试剂仪器及方法 | 第28-34页 |
2.1 实验试剂与仪器 | 第28-30页 |
2.1.1 实验试剂 | 第28-29页 |
2.1.2 实验仪器 | 第29-30页 |
2.2 低共熔溶剂电解液的合成与表征 | 第30页 |
2.2.1 ChCl-EG DES的合成 | 第30页 |
2.2.2 ChCl-EG DES的表征 | 第30页 |
2.3 电化学测试 | 第30-32页 |
2.3.1 循环伏安测试(CV) | 第30-31页 |
2.3.2 线性扫描伏安曲线测试(LSV) | 第31-32页 |
2.4 电解实验 | 第32-33页 |
2.4.1 Sb_2O_3粉末在ChCl-EG中的电解还原 | 第32页 |
2.4.2 铜基体上电沉积制备纳米锑粉的实验 | 第32-33页 |
2.5 样品表征手段 | 第33-34页 |
2.5.1 X射线衍射检测 | 第33页 |
2.5.2 扫描电镜和高分辨投射电镜检测 | 第33页 |
2.5.3 红外和紫外光谱分析检测 | 第33-34页 |
第三章 ChCl-EG-Sb_2O_3体系的物理性质测定 | 第34-42页 |
3.1 Sb_2O_3在低共熔溶剂中溶解性能的研究 | 第34-35页 |
3.2 ChCl-EG-Sb_2O_3体系黏度的测定 | 第35-38页 |
3.2.1 温度对ChCl-EG-Sb_2O_3体系黏度的影响 | 第35-37页 |
3.2.2 Sb_2O_3浓度对ChCl-EG-Sb_2O_3体系黏度的影响 | 第37-38页 |
3.3 ChCl-EG-Sb_2O_3体系电导率的测定 | 第38-40页 |
3.3.1 温度对ChCl-EG-Sb_2O_3体系电导率的影响 | 第38-40页 |
3.3.2 Sb_2O_3浓度对ChCl-EG-Sb_2O_3体系电导率的影响 | 第40页 |
3.4 本章小结 | 第40-42页 |
第四章 ChCl-EG-Sb_2O_3体系中电沉积制备纳米锑粉 | 第42-56页 |
4.1 Sb在ChCl-EG-Sb_2O_3体系中的电化学行为 | 第42-49页 |
4.1.1 循环伏安曲线研究 | 第42-44页 |
4.1.2 扫速对循环伏安曲线的影响 | 第44-46页 |
4.1.3 温度对玻碳电极在体系中的循环伏安曲线的影响 | 第46-49页 |
4.2 电沉积制备的纳米锑粉的研究 | 第49-53页 |
4.2.1 电沉积制备的样品的XRD检测 | 第49页 |
4.2.2 不同槽电压下电沉积的研究 | 第49-52页 |
4.2.3 不同电沉积时间下的研究 | 第52-53页 |
4.2.4 纳米锑粉的投射电镜分析 | 第53页 |
4.3 本章小结 | 第53-56页 |
第五章 ChCl-EG DES中电解还原Sb_2O_3制备锑粉的研究 | 第56-72页 |
5.1 Sb_2O_3的热力学数据分析 | 第56-57页 |
5.2 Sb_2O_3粉末的线性伏安曲线研究 | 第57-59页 |
5.3 电解实验 | 第59-67页 |
5.3.1 时间对电解还原结果的影响 | 第59-60页 |
5.3.2 槽电压对电解还原结果的影响 | 第60-62页 |
5.3.3 温度对电解还原结果的影响 | 第62-63页 |
5.3.4 不同阳极电解实验 | 第63-66页 |
5.3.5 Sb_2O_3粉和金属锑粉的形貌分析 | 第66-67页 |
5.4 还原反应机理的分析 | 第67-70页 |
5.5 本章小结 | 第70-72页 |
第六章 结论与展望 | 第72-74页 |
6.1 结论 | 第72-73页 |
6.2 创新点 | 第73页 |
6.3 展望 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-76页 |
参考文献 | 第76-88页 |
附录A 攻读硕士期间获得的成果 | 第88-90页 |
附录B 不同温度和扫速下测得的循环伏安曲线的数值 | 第90-91页 |