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低共熔溶剂ChCl-EG低温电解Sb2O3粉制备锑粉的研究

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
第一章 绪论第12-28页
    1.1 研究背景第12-16页
        1.1.1 金属锑和纳米锑粉的用途第12-13页
        1.1.2 制备方法及存在问题第13-16页
    1.2 低共熔溶剂第16-25页
        1.2.1 低共熔溶剂概述第16页
        1.2.2 低共熔溶剂的物理化学性质第16-21页
        1.2.3 低共熔溶剂的应用概况第21-25页
    1.3 国内外研究动态第25-26页
    1.4 本文的主要研究内容第26-28页
第二章 实验试剂仪器及方法第28-34页
    2.1 实验试剂与仪器第28-30页
        2.1.1 实验试剂第28-29页
        2.1.2 实验仪器第29-30页
    2.2 低共熔溶剂电解液的合成与表征第30页
        2.2.1 ChCl-EG DES的合成第30页
        2.2.2 ChCl-EG DES的表征第30页
    2.3 电化学测试第30-32页
        2.3.1 循环伏安测试(CV)第30-31页
        2.3.2 线性扫描伏安曲线测试(LSV)第31-32页
    2.4 电解实验第32-33页
        2.4.1 Sb_2O_3粉末在ChCl-EG中的电解还原第32页
        2.4.2 铜基体上电沉积制备纳米锑粉的实验第32-33页
    2.5 样品表征手段第33-34页
        2.5.1 X射线衍射检测第33页
        2.5.2 扫描电镜和高分辨投射电镜检测第33页
        2.5.3 红外和紫外光谱分析检测第33-34页
第三章 ChCl-EG-Sb_2O_3体系的物理性质测定第34-42页
    3.1 Sb_2O_3在低共熔溶剂中溶解性能的研究第34-35页
    3.2 ChCl-EG-Sb_2O_3体系黏度的测定第35-38页
        3.2.1 温度对ChCl-EG-Sb_2O_3体系黏度的影响第35-37页
        3.2.2 Sb_2O_3浓度对ChCl-EG-Sb_2O_3体系黏度的影响第37-38页
    3.3 ChCl-EG-Sb_2O_3体系电导率的测定第38-40页
        3.3.1 温度对ChCl-EG-Sb_2O_3体系电导率的影响第38-40页
        3.3.2 Sb_2O_3浓度对ChCl-EG-Sb_2O_3体系电导率的影响第40页
    3.4 本章小结第40-42页
第四章 ChCl-EG-Sb_2O_3体系中电沉积制备纳米锑粉第42-56页
    4.1 Sb在ChCl-EG-Sb_2O_3体系中的电化学行为第42-49页
        4.1.1 循环伏安曲线研究第42-44页
        4.1.2 扫速对循环伏安曲线的影响第44-46页
        4.1.3 温度对玻碳电极在体系中的循环伏安曲线的影响第46-49页
    4.2 电沉积制备的纳米锑粉的研究第49-53页
        4.2.1 电沉积制备的样品的XRD检测第49页
        4.2.2 不同槽电压下电沉积的研究第49-52页
        4.2.3 不同电沉积时间下的研究第52-53页
        4.2.4 纳米锑粉的投射电镜分析第53页
    4.3 本章小结第53-56页
第五章 ChCl-EG DES中电解还原Sb_2O_3制备锑粉的研究第56-72页
    5.1 Sb_2O_3的热力学数据分析第56-57页
    5.2 Sb_2O_3粉末的线性伏安曲线研究第57-59页
    5.3 电解实验第59-67页
        5.3.1 时间对电解还原结果的影响第59-60页
        5.3.2 槽电压对电解还原结果的影响第60-62页
        5.3.3 温度对电解还原结果的影响第62-63页
        5.3.4 不同阳极电解实验第63-66页
        5.3.5 Sb_2O_3粉和金属锑粉的形貌分析第66-67页
    5.4 还原反应机理的分析第67-70页
    5.5 本章小结第70-72页
第六章 结论与展望第72-74页
    6.1 结论第72-73页
    6.2 创新点第73页
    6.3 展望第73-74页
致谢第74-76页
参考文献第76-88页
附录A 攻读硕士期间获得的成果第88-90页
附录B 不同温度和扫速下测得的循环伏安曲线的数值第90-91页

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