| 中文摘要 | 第4-5页 |
| 英文摘要 | 第5页 |
| 1 绪论 | 第9-17页 |
| 1．1 引言 | 第9-10页 |
| 1．2 受控核聚变与等离子体的关系 | 第10-11页 |
| 1．3 应用X射线谱进行激光等离子体诊断 | 第11-15页 |
| 1．3．1 国内外X射线探测光谱仪研究现状综述 | 第12-14页 |
| 1．3．2 双通道椭圆弯晶谱仪研制的可行性分析及意义 | 第14-15页 |
| 1．4 课题的来源 | 第15页 |
| 1．5 本文的主要研究内容 | 第15-17页 |
| 2 X射线衍射及探测技术基础 | 第17-30页 |
| 2．1 X射线的发生和衍射 | 第17-19页 |
| 2．1．1 特征X射线的发生 | 第17-18页 |
| 2．1．2 X射线的晶体衍射 | 第18页 |
| 2．1．3 布拉格公式 | 第18-19页 |
| 2．2 晶体的衍射本领 | 第19-25页 |
| 2．2．1 决定晶体分光能力的四个性质 | 第19-22页 |
| 2．2．2 晶体的积分反射率 | 第22-25页 |
| 2．3 晶体谱仪及其在激光等离子体X射线探测中的应用 | 第25-30页 |
| 2．3．1 晶体谱仪 | 第25-28页 |
| 2．3．2 晶体谱仪在X射线激光实验中的应用 | 第28-30页 |
| 3 双通道椭圆弯晶谱仪的基本理论 | 第30-45页 |
| 3．1 光谱仪器的基本组成和分类 | 第30-33页 |
| 3．1．1 光谱仪器的基本组成 | 第30-32页 |
| 3．1．2 光谱仪器的分类 | 第32-33页 |
| 3．2 双通道椭圆弯晶谱仪的基本原理 | 第33-34页 |
| 3．3 双通道椭圆弯晶谱仪的基本组成 | 第34-37页 |
| 3．3．1 光源 | 第34页 |
| 3．3．2 准直系统 | 第34-35页 |
| 3．3．3 色散系统 | 第35-36页 |
| 3．3．4 聚焦成像系统及滤光膜的选择 | 第36页 |
| 3．3．5 接收和检测记录系统 | 第36-37页 |
| 3．4 双通道椭圆弯晶谱仪的基本特性 | 第37-41页 |
| 3．4．1 工作光谱范围 | 第37页 |
| 3．4．2 色散率 | 第37-39页 |
| 3．4．3 分辨率 | 第39-41页 |
| 3．5 双通道椭圆弯晶谱仪的精度和误差分析 | 第41-45页 |
| 3．5．1 波长沿探测圆的弥散度 | 第41-42页 |
| 3．5．2 光度参数与探测角之间的关系 | 第42-43页 |
| 3．5．3 狭缝宽度引起的误差 | 第43-45页 |
| 4 双通道椭圆弯晶谱仪设计方案 | 第45-62页 |
| 4．1 双通道椭圆弯晶谱仪的总体设计方案 | 第45-47页 |
| 4．2 双通道椭圆弯晶谱仪光学系统的设计 | 第47-53页 |
| 4．2．1 双通道椭圆弯晶谱仪色散系统的设计 | 第47-49页 |
| 4．2．2 椭圆弯晶基底主要尺寸和技术参数的确定 | 第49-51页 |
| 4．2．3 双通道光谱检测系统的设计 | 第51页 |
| 4．2．4 成像系统的设计 | 第51-52页 |
| 4．2．5 接收和记录系统的设计 | 第52-53页 |
| 4．3 双通道椭圆弯晶谱仪典型机械结构的设计 | 第53-59页 |
| 4．3．1 椭圆弯晶及其固定装置的结构设计 | 第53-54页 |
| 4．3．2 谱仪真空室 | 第54-57页 |
| 4．3．3 瞄准对中监视装置 | 第57页 |
| 4．3．4 定位支承调节基座 | 第57-58页 |
| 4．3．5 与靶室的可换连接装置 | 第58页 |
| 4．3．6 谱仪总装配 | 第58-59页 |
| 4．4 双通道椭圆弯晶谱仪的对中与调整 | 第59-62页 |
| 4．4．1 调整对中方案 | 第59-60页 |
| 4．4．2 靶心偏离中心位置时对弯晶受光量的影响 | 第60-61页 |
| 4．4．3 双通道椭圆弯晶谱仪的调整对中实验结果 | 第61-62页 |
| 5 结论 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-65页 |