| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-29页 |
| 1.1 引言 | 第11-12页 |
| 1.1.1 相图 | 第11页 |
| 1.1.2 相图的应用 | 第11-12页 |
| 1.2 研究背景 | 第12-22页 |
| 1.2.1 热电材料 | 第13页 |
| 1.2.2 热电效应及其应用 | 第13-18页 |
| 1.2.3 热电材料研究进展 | 第18-22页 |
| 1.3 PbTe基热电材料的研究进展 | 第22-23页 |
| 1.3.1 合金化 | 第22页 |
| 1.3.2 低维化 | 第22-23页 |
| 1.3.3 梯度化 | 第23页 |
| 1.4 SnTe基热电材料的研究进展 | 第23-24页 |
| 1.5 相图的构建方法 | 第24页 |
| 1.6 研究意义和主要内容 | 第24-25页 |
| 参考文献 | 第25-29页 |
| 第二章 实验设备与方法 | 第29-33页 |
| 2.1 实验设备 | 第29页 |
| 2.2 实验原料 | 第29页 |
| 2.3 材料组织和结构表征仪器 | 第29-32页 |
| 2.3.1 X射线衍射仪(XRD) | 第29-30页 |
| 2.3.2 扫描电子显微镜(SEM) | 第30页 |
| 2.3.3 差示扫描量热仪(DSC) | 第30-32页 |
| 参考文献 | 第32-33页 |
| 第三章 Pb-Sb-Te三元系500℃等温截面 | 第33-48页 |
| 3.1 前言 | 第33-38页 |
| 3.1.1 Pb、Sb、Te的原子参数 | 第33页 |
| 3.1.2 Pb-Te二元相图 | 第33-34页 |
| 3.1.3 Pb-Sb二元相图 | 第34-35页 |
| 3.1.4 Sb-Te二元相图 | 第35-37页 |
| 3.1.5 Pb-Sb-Te三元相图 | 第37-38页 |
| 3.2 实验部分 | 第38-39页 |
| 3.2.1 实验原料的准备 | 第38页 |
| 3.2.2 样品称量和热处理 | 第38-39页 |
| 3.2.3 样品处理方法 | 第39页 |
| 3.3 实验结果与分析 | 第39-45页 |
| 3.4 讨论 | 第45页 |
| 3.5 本章小结 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-48页 |
| 第四章 Sn-Sb-Te三元系200℃等温截面 | 第48-62页 |
| 4.1 前言 | 第48-52页 |
| 4.1.1 Sn、Sb、Te的原子参数 | 第48-49页 |
| 4.1.2 Sn-Sb二元相图 | 第49-50页 |
| 4.1.3 Sn-Te二元相图 | 第50-51页 |
| 4.1.4 Sn-Sb-Te三元系及其相关化合物 | 第51-52页 |
| 4.2 实验部分 | 第52-53页 |
| 4.2.1 实验原料的准备 | 第52页 |
| 4.2.2 样品称量和热处理 | 第52页 |
| 4.2.3 样品处理方法 | 第52-53页 |
| 4.3 实验结果与分析 | 第53-58页 |
| 4.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 第五章 Pb-Sb-Te体系不同合金成分热容的测定 | 第62-73页 |
| 5.1 前言 | 第62-63页 |
| 5.2 实验部分 | 第63-64页 |
| 5.2.1 实验样品 | 第63页 |
| 5.2.2 比热容的测定原理 | 第63-64页 |
| 5.2.3 测定过程 | 第64页 |
| 5.3 实验结果与分析 | 第64-70页 |
| 5.4 结论 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 第六章 总结与展望 | 第73-75页 |
| 6.1 研究与总结 | 第73-74页 |
| 6.2 工作展望 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 攻读硕士期间发表论文情况 | 第76页 |