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片上集群体系结构验证关键技术研究

摘要第9-10页
ABSTRACT第10页
第一章 绪论第11-17页
    1.1 课题研究背景第11-14页
        1.1.1 片上多核处理器第11-12页
        1.1.2 多核处理器模拟器第12-14页
    1.2 国内外相关研究现状第14-15页
    1.3 本文主要工作第15页
    1.4 论文结构第15-17页
第二章 片上集群体系结构验证系统设计需求分析第17-32页
    2.1 片上集群体系结构验证系统第17-21页
        2.1.1 片上集群体系结构第17-19页
        2.1.2 验证系统第19-21页
    2.2 验证平台设计需求第21-24页
    2.3 片上网络设计需求第24-31页
        2.3.1 拓扑结构第24-25页
        2.3.2 交换机制第25-27页
        2.3.3 路由算法第27-28页
        2.3.4 报文协议第28-29页
        2.3.5 死锁的产生和避免第29-31页
    2.4 小结第31-32页
第三章 面向片上集群验证系统的片上网络设计第32-42页
    3.1 片上网络实现第32-39页
        3.1.1 输入输出模块第33-36页
        3.1.2 仲裁模块第36-37页
        3.1.3 交叉开关模块第37-38页
        3.1.4 网络适配模块第38-39页
    3.2 片上网络功能仿真验证第39-41页
        3.2.1 虚拟通道分配模块第39页
        3.2.2 数据输出模块第39-40页
        3.2.3 路由器模块第40-41页
        3.2.4 仲裁输出模块第41页
    3.3 小结第41-42页
第四章 基于FPGA的可扩展验证平台设计第42-56页
    4.1 验证平台FPGA芯片第42-43页
    4.2 外设子系统第43-51页
        4.2.1 电源分配子系统第43-44页
        4.2.2 时钟分配子系统第44-45页
        4.2.3 配置调试子系统第45-46页
        4.2.4 I/O子系统第46-51页
    4.3 互连系统第51-53页
    4.4 印制电路板第53-55页
        4.4.1 PCB规划设计第53-54页
        4.4.2 验证平台第54-55页
    4.5 小结第55-56页
第五章 基于FPGA的可扩展验证平台测试第56-64页
    5.1 处理系统区域及外设第56-57页
    5.2 可编程区域及外设第57-63页
        5.2.1 片间GTX互连测试第57-58页
        5.2.2 10G以太网测试第58-59页
        5.2.3 SFP+光纤模块测试第59-60页
        5.2.4 PCIe模块测试第60-61页
        5.2.5 LVDS互连测试第61-63页
    5.3 小结第63-64页
第六章 结束语第64-66页
    6.1 工作总结第64-65页
    6.2 未来工作的展望第65-66页
致谢第66-67页
参考文献第67-70页
作者在学期间取得的学术成果第70页

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