存在互耦情况下的阵列测向技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 研究意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-12页 |
| 1.3 本论文主要研究内容 | 第12-13页 |
| 第二章 阵列测向技术基础 | 第13-25页 |
| 2.1 阵列测向技术数学模型 | 第13-17页 |
| 2.1.1 基本模型 | 第13-15页 |
| 2.1.2 均匀等距线阵 | 第15-16页 |
| 2.1.3 均匀等距L型阵 | 第16-17页 |
| 2.2 阵列测向技术经典算法 | 第17-24页 |
| 2.2.1 多重信号分类(MUSIC)算法 | 第17-19页 |
| 2.2.2 求根MUSIC算法 | 第19-20页 |
| 2.2.3 旋转不变子空间(ESPRIT)算法 | 第20-22页 |
| 2.2.4 传播算子算法(PM) | 第22-24页 |
| 2.3 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 阵列误差校正技术 | 第25-38页 |
| 3.1 阵列误差建模分析 | 第25-27页 |
| 3.1.1 阵元方向图误差 | 第26页 |
| 3.1.2 阵元通道幅相误差 | 第26页 |
| 3.1.3 阵元位置误差 | 第26-27页 |
| 3.2 阵元互耦误差 | 第27-30页 |
| 3.3 阵列误差的有源校正 | 第30-33页 |
| 3.3.4 单辅助源通道幅相误差校正 | 第30页 |
| 3.3.5 多辅助源通道幅相及位置误差校正 | 第30-32页 |
| 3.3.6 多辅助源阵元位置误差校正 | 第32-33页 |
| 3.4 阵列互耦自校正算法 | 第33-36页 |
| 3.4.1 基于秩损法和互耦矩阵结构的算法 | 第34-35页 |
| 3.4.2 辅助阵元法 | 第35页 |
| 3.4.3 互耦系数估计算法 | 第35-36页 |
| 3.5 本章小结 | 第36-38页 |
| 第四章 存在互耦情况下的均匀线阵测向技术 | 第38-52页 |
| 4.1 存在互耦下均匀线阵模型 | 第38-39页 |
| 4.2 参数化导向矢量的 DOA 估计算法 | 第39-41页 |
| 4.3 低复杂度的均匀线阵互耦自校正算法 | 第41-45页 |
| 4.3.1 基于秩损法的DOA估计 | 第41-42页 |
| 4.3.2 互耦系数估计 | 第42-43页 |
| 4.3.3 进一步提高DOA估计精度 | 第43-44页 |
| 4.3.4 算法总结及复杂度分析 | 第44-45页 |
| 4.4 算法性能仿真实验 | 第45-50页 |
| 4.4.1 算法性能与信噪比的关系 | 第46-47页 |
| 4.4.2 算法性能与快拍数的关系 | 第47-48页 |
| 4.4.3 过估计的影响 | 第48-49页 |
| 4.4.4 在强互耦下的性能 | 第49-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-52页 |
| 第五章 存在互耦情况下均匀矩形阵列测向技术 | 第52-67页 |
| 5.1 存在互耦下的均匀矩形阵列模型 | 第52-53页 |
| 5.2 基于辅助阵元法的均匀矩形阵DOA估计算法 | 第53-55页 |
| 5.3 均匀矩形阵列互耦自校正算法 | 第55-61页 |
| 5.3.1 导向矢量的预处理 | 第57-59页 |
| 5.3.2 基于秩损法的DOA估计 | 第59-60页 |
| 5.3.3 互耦系数估计 | 第60-61页 |
| 5.3.4 算法总结及复杂度分析 | 第61页 |
| 5.4 算法性能仿真实验 | 第61-66页 |
| 5.4.1 算法性能与信噪比的关系 | 第62-63页 |
| 5.4.2 算法性能与快拍的关系 | 第63-64页 |
| 5.4.3 算法性能与阵列大小的关系 | 第64-65页 |
| 5.4.4 在强互耦下的性能 | 第65-66页 |
| 5.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 结束语 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
