基于光纤光谱仪的固体表面发射率测量系统的开发
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-25页 |
1.1 研究背景及意义 | 第11-12页 |
1.2 发射率测量技术研究现状 | 第12-23页 |
1.2.1 固体表面发射率分类 | 第12-14页 |
1.2.2 固体表面发射率测试方法 | 第14-23页 |
1.3 本文的研究内容 | 第23-25页 |
第二章 固体表面发射率测量系统设计 | 第25-55页 |
2.1 系统设计总体思路 | 第25-27页 |
2.2 加热系统 | 第27-34页 |
2.2.1 加热元件设计 | 第28-30页 |
2.2.2 控温系统设计 | 第30-32页 |
2.2.3 真空系统设计 | 第32-33页 |
2.2.4 辅助设计 | 第33-34页 |
2.3 黑体炉系统 | 第34-37页 |
2.3.1 黑体炉选型 | 第34-36页 |
2.3.2 黑体炉改造 | 第36-37页 |
2.4 光路系统 | 第37-40页 |
2.4.1 连通设计 | 第37页 |
2.4.2 聚光设计 | 第37-38页 |
2.4.3 减少损失 | 第38-40页 |
2.5 真空系统 | 第40-44页 |
2.6 水冷系统 | 第44-46页 |
2.7 控制系统 | 第46-47页 |
2.8 测量系统 | 第47-53页 |
2.8.1 光纤光谱仪 | 第48-50页 |
2.8.2 高温辐射温度计 | 第50-53页 |
2.9 本章小结 | 第53-55页 |
第三章 固体表面发射率测量系统测试实验 | 第55-66页 |
3.1 分析方法 | 第55-57页 |
3.2 测试实验 | 第57-58页 |
3.2.1 实验样品 | 第57-58页 |
3.2.2 实验条件 | 第58页 |
3.2.3 实验步骤 | 第58页 |
3.3 光纤光谱仪测量结果分析 | 第58-61页 |
3.3.1 不锈钢数据分析 | 第59-60页 |
3.3.2 已氧化不锈钢数据分析 | 第60-61页 |
3.3.3 石墨数据分析 | 第61页 |
3.4 高温辐射温度计测量结果分析 | 第61-65页 |
3.4.1 不锈钢数据分析 | 第62-63页 |
3.4.2 已氧化不锈钢数据分析 | 第63-64页 |
3.4.3 石墨数据分析 | 第64-65页 |
3.5 本章小结 | 第65-66页 |
第四章 固体表面发射率测量系统误差分析 | 第66-77页 |
4.1 加热系统误差分析 | 第66-67页 |
4.2 黑体炉系统误差分析 | 第67-72页 |
4.2.1 黑体炉发射率计算 | 第67-72页 |
4.3 光纤光谱仪误差分析 | 第72-75页 |
4.3.1 光纤光谱仪分辨率误差分析 | 第72-73页 |
4.3.2 能量传递误差分析 | 第73-75页 |
4.4 系统综合误差分析 | 第75页 |
4.5 本章小结 | 第75-77页 |
第五章 总结和展望 | 第77-79页 |
5.1 全文总结 | 第77-78页 |
5.2 进一步工作展望 | 第78-79页 |
参考文献 | 第79-84页 |
攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第84-85页 |
致谢 | 第85-86页 |
附件 | 第86页 |