压电半导体结构的数值模拟
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 引言 | 第10-14页 |
| 1.1 选题意义 | 第10页 |
| 1.2 压电半导体概述 | 第10-11页 |
| 1.3 压电半导体可靠性研究现状 | 第11-13页 |
| 1.4 本文主要工作 | 第13-14页 |
| 2 压电半导体的线性化分析 | 第14-37页 |
| 2.1 基本方程 | 第14-17页 |
| 2.2 线性化处理 | 第17-19页 |
| 2.3 ―压电—导体”迭代方法 | 第19-23页 |
| 2.4 平面断裂分析 | 第23-36页 |
| 2.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 3 非线性压电半导体研究 | 第37-70页 |
| 3.1 非线性问题数值计算方法 | 第37-39页 |
| 3.2 控制方程的非线性影响 | 第39-47页 |
| 3.2.1 复合—产生机制 | 第39-42页 |
| 3.2.2 不同复合—产生机制的对比 | 第42-47页 |
| 3.3 本构方程的非线性影响 | 第47-59页 |
| 3.3.1 平面断裂分析 | 第47-53页 |
| 3.3.2 线性化处理带来的影响 | 第53-59页 |
| 3.4 边界条件的影响 | 第59-69页 |
| 3.4.1 欧姆接触 | 第60-62页 |
| 3.4.2 肖特基接触 | 第62-63页 |
| 3.4.3 两种边界条件的对比 | 第63-69页 |
| 3.5 本章小结 | 第69-70页 |
| 4 典型结构pn结的研究 | 第70-89页 |
| 4.1 pn结基本理论 | 第70-73页 |
| 4.1.1 内建电场的形成 | 第70-72页 |
| 4.1.2 pn结的I-V特点 | 第72-73页 |
| 4.2 界面裂纹分析 | 第73-88页 |
| 4.2.1 压电半导体pn结模型 | 第73-75页 |
| 4.2.2 边界条件 | 第75页 |
| 4.2.3 数值结果分析 | 第75-88页 |
| 4.3 本章小结 | 第88-89页 |
| 5 结论与展望 | 第89-91页 |
| 5.1 结论 | 第89-90页 |
| 5.2 展望 | 第90-91页 |
| 参考文献 | 第91-96页 |
| 致谢 | 第96-97页 |
| 个人简历、在校期间发表的学术论文及研究成果 | 第97页 |
