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硅调谐器的性能评估及测量

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第1章 绪论第9-15页
    1.1 课题背景及研究的目的和意义第9-10页
    1.2 国内外研究现状第10-13页
    1.3 本文的主要研究内容第13-15页
第2章 硅调谐器的实现原理及技术分析第15-39页
    2.1 引言第15页
    2.2 超外差第15-18页
    2.3 镜像抑制第18-21页
    2.4 零中频及直流失调第21-23页
    2.5 低中频第23-24页
    2.6 非线性第24-38页
        2.6.1 泰勒级数的近似展开第24-25页
        2.6.2 单级1dB增益压缩和多级放大器级联的动态范围第25-26页
        2.6.3 非线性失真带来的常见问题及量化指标IIP3和IIP2第26-30页
        2.6.4 级联放大器的线性度范围第30-32页
        2.6.5 多信号输入条件下的复合线性度指标CSO&CTB第32-38页
    2.7 本章小节第38-39页
第3章 硅调谐器的指标测量第39-69页
    3.1 引言第39页
    3.2 C/N载噪比与噪声系数及灵敏度第39-44页
    3.3 临道选择性及镜像抑制第44-48页
    3.4 S参数第48-49页
    3.5 频率泄漏第49-52页
    3.6 3阶交截点IIP3第52-54页
    3.7 交叉调制第54-57页
    3.8 2阶及3阶复合线性度CSO&CTB第57-68页
    3.9 本章小节第68-69页
第4章 硅调谐器的指标评估及测量总结第69-77页
    4.1 引言第69页
    4.2 硅调谐器的指标评估及测量总结第69-76页
    4.3 本章小节第76-77页
结论第77-78页
参考文献第78-82页
致谢第82-83页
个人简历第83页

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