基于AATT法相控阵超声检测裂纹高度定量误差研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-20页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9-11页 |
| 1.2 裂纹高度定量超声检测研究现状 | 第11-19页 |
| 1.2.1 常用的裂纹高度定量超声检测方法 | 第11-12页 |
| 1.2.2 相控阵超声裂纹高度定量研究现状 | 第12-19页 |
| 1.3 课题研究内容 | 第19-20页 |
| 2 相控阵超声检测技术原理 | 第20-26页 |
| 2.1 超声相控阵检测原理概述 | 第20-21页 |
| 2.2 相控阵超声的声束控制 | 第21-23页 |
| 2.3 相控阵超声的视图显示 | 第23-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 3 相控阵超声裂纹高度定量分析 | 第26-35页 |
| 3.1 AATT法基本原理 | 第26-27页 |
| 3.2 AATT法结合扇扫图高度定量 | 第27页 |
| 3.3 影响裂纹高度定量的参数理论分析 | 第27-33页 |
| 3.3.1 纵向分辨力 | 第28-29页 |
| 3.3.2 影响纵向分辨力的影响因素 | 第29-33页 |
| 3.4 主要研究的影响参数 | 第33-34页 |
| 3.5 本章小结 | 第34-35页 |
| 4 相控阵超声裂纹定高参数影响研究 | 第35-65页 |
| 4.1 实验系统及模拟软件信息 | 第35-36页 |
| 4.2 探头参数对裂纹定高的影响 | 第36-44页 |
| 4.2.1 数值模拟 | 第37-39页 |
| 4.2.2 实际检测 | 第39-44页 |
| 4.3 楔块参数对裂纹定高的影响 | 第44-52页 |
| 4.3.1 楔块声速 | 第44-48页 |
| 4.3.2 楔块倾角 | 第48-50页 |
| 4.3.3 第一阵元晶片高度 | 第50-52页 |
| 4.4 试块声速 | 第52-56页 |
| 4.5 检测状态对裂纹定高的影响 | 第56-64页 |
| 4.5.1 角度分辨率及采样点数 | 第56-60页 |
| 4.5.2 检测面及检测方向 | 第60-64页 |
| 4.6 本章小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
