具有数字校准功能的双相并联Buck型DC-DC芯片的设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-20页 |
| 1.1 开关电源研究意义及现状 | 第16页 |
| 1.2 开关电源芯片的概述 | 第16-18页 |
| 1.3 论文的创新点和章节安排 | 第18-20页 |
| 第二章 Buck型DC-DC工作原理概述 | 第20-30页 |
| 2.1 Buck型DC-DC的拓扑结构及工作模式 | 第20-26页 |
| 2.2 Buck型DC-DC变换器的调制方式 | 第26-30页 |
| 2.2.1 脉冲宽度调制模式 | 第27-29页 |
| 2.2.2 脉冲频率调制方式 | 第29页 |
| 2.2.3 脉冲跨周期调制方式 | 第29-30页 |
| 第三章 芯片XD1580系统设计及双相并联应用 | 第30-42页 |
| 3.1 芯片的引脚定义及电特性设计 | 第30-32页 |
| 3.2 系统的工作原理及框图 | 第32-33页 |
| 3.3 系统的外围器件的选择及稳定性分析 | 第33-38页 |
| 3.3.1 电感的选择 | 第33-34页 |
| 3.3.2 输入电容和输出电容的选取 | 第34-35页 |
| 3.3.3 分压电阻的选择 | 第35-36页 |
| 3.3.4 补偿网络的选取及稳定性分析 | 第36-38页 |
| 3.4 双相并联的应用 | 第38-42页 |
| 第四章 数字校准和锁相环的设计 | 第42-58页 |
| 4.1 数字校准技术 | 第42-46页 |
| 4.1.1 输出电压误差分析 | 第42-43页 |
| 4.1.2 数字校准技术的设计与实现 | 第43-46页 |
| 4.2 锁相环技术 | 第46-58页 |
| 4.2.1 锁相环基本结构 | 第47-53页 |
| 4.2.2 锁相环稳定性与噪声分析 | 第53-58页 |
| 第五章 XD1580系统子模块的设计与仿真 | 第58-74页 |
| 5.1 带隙基准电压模块设计与实现 | 第58-65页 |
| 5.1.1 带隙基准电压源工作原理 | 第58-60页 |
| 5.1.2 带隙基准电压的电路设计与实现 | 第60-64页 |
| 5.1.3 电压基准模块的仿真分析 | 第64-65页 |
| 5.2 电流采样模块的设计与实现 | 第65-68页 |
| 5.2.1 电流采样的工作原理 | 第65-66页 |
| 5.2.2 高精度电流采样电路 | 第66-67页 |
| 5.2.3 电流采样电路的仿真结果及分析 | 第67-68页 |
| 5.3 高速PWM比较器的设计与实现 | 第68-74页 |
| 5.3.1 高速PWM比较器的电路设计 | 第68-71页 |
| 5.3.2 高速PWM比较器的仿真分析 | 第71-74页 |
| 第六章 系统的整体仿真与版图设计 | 第74-80页 |
| 6.1 单个芯片系统功能仿真 | 第74-77页 |
| 6.2 双相并联应用整体仿真 | 第77-78页 |
| 6.3 版图设计 | 第78-80页 |
| 第七章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
| 作者简介 | 第88-89页 |
