| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究的目的和意义 | 第10页 |
| 1.2 水平井技术研究现状 | 第10-14页 |
| 1.2.1 水平井钻井技术的发展现状 | 第10-13页 |
| 1.2.2 水平井中感应测井的发展现状 | 第13-14页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第二章 阵列感应测井理论 | 第16-24页 |
| 2.1 阵列感应测井仪器HDIL综述 | 第16-18页 |
| 2.2 感应测井中线圈系理论 | 第18-23页 |
| 2.2.1 均匀介质中感应测井电磁场分布 | 第18-21页 |
| 2.2.2 感应测井双线圈系感应测井理论 | 第21-22页 |
| 2.2.3 感应测井三线圈系测量理论 | 第22-23页 |
| 2.3 小结 | 第23-24页 |
| 第三章 阵列感应在斜井和水平井中响应特性 | 第24-39页 |
| 3.1 斜井和水平井的阵列感应的模型创建 | 第24-27页 |
| 3.1.1 COMSOL有限元软件求解感应测井问题 | 第24页 |
| 3.1.2 在COMSOL创建斜井和水平井模型 | 第24-27页 |
| 3.2 水平井中的阵列感应响应特性 | 第27-31页 |
| 3.2.1 水平井位置对水平井中阵列感应测井响应特性的影响 | 第27-29页 |
| 3.2.2 目的层层厚变化对水平井中阵列感应响应特性的影响 | 第29页 |
| 3.2.3 目的层和围岩电导率及其比度变化对水平井中阵列感应响应的影响 | 第29-31页 |
| 3.3 斜井中的阵列感应测井响应影响 | 第31-35页 |
| 3.3.1 同一倾角下各子阵列的响应分析 | 第31-33页 |
| 3.3.2 不同子阵列随仪器倾角变化的影响 | 第33-34页 |
| 3.3.3 不同电导率对比度对斜井中各子阵列的响应影响 | 第34-35页 |
| 3.4 阵列感应响应特性的机理分析 | 第35-38页 |
| 3.5 小结 | 第38-39页 |
| 第四章 水平井中阵列感应的井眼影响 | 第39-49页 |
| 4.1 在COMSOL中水平井阵列感应井眼模型的创建 | 第39-40页 |
| 4.2 井眼对阵列感应测井的影响 | 第40-44页 |
| 4.2.1 不同井眼的对比影响 | 第40-41页 |
| 4.2.2 泥浆和地层电导率对比度影响 | 第41-42页 |
| 4.2.3 井眼偏心的影响 | 第42-44页 |
| 4.3 井眼在三层地层中的影响 | 第44-48页 |
| 4.3.1 三层可变地层中的井眼影响 | 第44-46页 |
| 4.3.2 三层地层中水平井井眼位置影响 | 第46-48页 |
| 4.4 小结 | 第48-49页 |
| 第五章 水平井中阵列感应的侵入影响 | 第49-58页 |
| 5.1 在COMSOL中水平井阵列感应侵入模型创建 | 第49-50页 |
| 5.2 侵入形状和大小的对比 | 第50-52页 |
| 5.2.1 侵入不同大小形状时的差异 | 第50-51页 |
| 5.2.2 侵入偏心的影响 | 第51-52页 |
| 5.2.3 水平井中有无侵入对比 | 第52页 |
| 5.3 侵入中电导率对比度的影响 | 第52-54页 |
| 5.4 三层地层中侵入影响 | 第54-56页 |
| 5.4.1 三层地层中侵入位置移动影响 | 第54页 |
| 5.4.2 侵入在层界面附近的电磁场分布 | 第54-56页 |
| 5.5 小结 | 第56-58页 |
| 第六章 层内非均质的影响 | 第58-66页 |
| 6.1 在COMSOL中层内非均质模型创建 | 第58-59页 |
| 6.2 层内非均质中的韵律性研究 | 第59-63页 |
| 6.2.1 正反韵律研究 | 第59-60页 |
| 6.2.2 复合韵律研究 | 第60-61页 |
| 6.2.3 地层在韵律性变化时电磁场的空间分布 | 第61-63页 |
| 6.3 目的层中的夹层影响 | 第63-65页 |
| 6.3.1 夹层层厚的影响 | 第64页 |
| 6.3.2 夹层位置的影响 | 第64-65页 |
| 6.4 小结 | 第65-66页 |
| 结论 | 第66-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻读硕士期间发表论文 | 第74-75页 |
