X射线测厚仪的研制及应用软件开发
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-16页 |
| ·研究背景 | 第10页 |
| ·测厚仪的分类 | 第10-12页 |
| ·X射线测厚仪的国内外研究现状 | 第12-14页 |
| ·本课题的研究内容 | 第14-16页 |
| 第2章 X射线测厚基础 | 第16-28页 |
| ·X射线的性质 | 第16-18页 |
| ·X射线的本质 | 第16页 |
| ·X射线的物理特性 | 第16-17页 |
| ·X射线的强度 | 第17页 |
| ·X射线的安全防护 | 第17-18页 |
| ·X射线的产生及其与物质的相互作用 | 第18-24页 |
| ·轫致辐射的产生 | 第18-19页 |
| ·X射线的管电压与辐射波长的关系 | 第19-20页 |
| ·X射线管电流与辐射波长的关系 | 第20-21页 |
| ·X射线与物质的相互作用 | 第21-22页 |
| ·X射线衰减规律 | 第22-24页 |
| ·X射线测厚仪测量原理 | 第24-26页 |
| ·本章小结 | 第26-28页 |
| 第3章 X射线测厚仪的硬件设计 | 第28-44页 |
| ·X射线测厚仪系统结构 | 第28-29页 |
| ·设计任务 | 第29-31页 |
| ·C型架的设计 | 第31页 |
| ·电气设计 | 第31-42页 |
| ·X射线源的测试 | 第31-33页 |
| ·探测器的选型 | 第33-35页 |
| ·AC6623性能介绍 | 第35-37页 |
| ·信号处理板的设计 | 第37-42页 |
| ·水冷机测试 | 第42页 |
| ·本章小结 | 第42-44页 |
| 第4章 X射线测厚仪的应用软件的开发 | 第44-54页 |
| ·系统界面显示 | 第44-47页 |
| ·测量过程 | 第47-48页 |
| ·校正过程 | 第48-50页 |
| ·标定过程 | 第50-51页 |
| ·数据存储 | 第51-52页 |
| ·本章小结 | 第52-54页 |
| 第5章 提高X射线测厚仪测量精度的方法 | 第54-66页 |
| ·X射线测厚仪测量精度的影响因素 | 第54-56页 |
| ·测头不稳定对测量精度的影响 | 第54页 |
| ·X射线强度不稳定对测量精度的影响 | 第54-55页 |
| ·合金成分变化对测量精度的影响 | 第55-56页 |
| ·通过位置高度对测量精度的影响 | 第56页 |
| ·现场生产环境造成的影响 | 第56页 |
| ·提高X射线测厚仪测量精度的方法 | 第56-61页 |
| ·在线校正 | 第56-57页 |
| ·合金补偿 | 第57-59页 |
| ·通过位置高度补偿 | 第59-60页 |
| ·角度补偿 | 第60页 |
| ·温度补偿 | 第60-61页 |
| ·在线校正 | 第61-64页 |
| ·本章小结 | 第64-66页 |
| 第6章 性能测试 | 第66-68页 |
| ·整机调试及性能测试 | 第66-67页 |
| ·调试 | 第66页 |
| ·性能测试 | 第66-67页 |
| ·实现的性能指标 | 第67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第7章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻读硕士期间发表的文献 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76页 |
