电子式互感器校验装置及方法的研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| ·电子式互感器介绍及发展现状 | 第12-15页 |
| ·电子式互感器的优点 | 第12页 |
| ·电子式互感器的分类 | 第12-14页 |
| ·电子式互感器的发展现状 | 第14-15页 |
| ·电子式互感器校验方法的研究现状 | 第15-16页 |
| ·主要研究内容及意义 | 第16-18页 |
| 第2章 电子式互感器校验方法及误差算法 | 第18-24页 |
| ·互感器的校验方法介绍 | 第18-19页 |
| ·传统的电磁互感器的校验方法 | 第18页 |
| ·电子式互感器的校验方法 | 第18-19页 |
| ·电子式互感器误差来源及定义 | 第19-24页 |
| ·误差的来源 | 第19-20页 |
| ·比值误差和相位误差 | 第20-21页 |
| ·误差分析及校验算法的研究 | 第21-24页 |
| 第3章 电子式互感器校验装置整体设计方案 | 第24-39页 |
| ·电子式互感器校验系统的软件系统设计方案 | 第24-30页 |
| ·Lab VIEW软件介绍 | 第24页 |
| ·Lab VIEW上位机软件设计 | 第24-26页 |
| ·电子式互感器校验仪程序运行部分 | 第26-29页 |
| ·软件的操作流程 | 第29-30页 |
| ·电子式互感器校验装置硬件设计方案 | 第30-39页 |
| ·硬件系统设计方案 | 第30页 |
| ·标准互感器 | 第30-34页 |
| ·被测互感器 | 第34-35页 |
| ·采集装置 | 第35-36页 |
| ·同步触发装置 | 第36-37页 |
| ·转换装置 | 第37-39页 |
| 第4章 电子式互感器的校验 | 第39-47页 |
| ·电子式互感器测试实验 | 第39-44页 |
| ·ECT校验 | 第39-41页 |
| ·EVT校验 | 第41-44页 |
| ·数据处理 | 第44-45页 |
| ·ECT所测的数据经过修约 | 第44-45页 |
| ·EVT数据经过修约 | 第45页 |
| ·依据被测EVT和ECT等级判断是否合格 | 第45-47页 |
| ·EVT误差极限 | 第45-46页 |
| ·0.2 级EVT和ECT的校验结果 | 第46-47页 |
| 第5章 电子式互感器校验装置的整体校验及误差分析 | 第47-59页 |
| ·电子式互感器校验装置的误差 | 第47-55页 |
| ·NI PCI 6281采集卡的精度校验 | 第47-49页 |
| ·同步触发装置的精度校验 | 第49-50页 |
| ·相位差校验 | 第50-52页 |
| ·转换装置的校验 | 第52-54页 |
| ·系统整体误差分析 | 第54-55页 |
| ·电子式互感器校验装置的测量不确定度 | 第55-59页 |
| ·电子式互感器校验装置引入不确定主要因素 | 第55页 |
| ·电子式互感器校验装置测量重复性带来的不确定度 | 第55-56页 |
| ·标准互感器和转换装置带来的不确定度 | 第56-57页 |
| ·采集装置带来的不确定度 | 第57页 |
| ·同步触发装置带来的不确定 | 第57页 |
| ·合成不确定及扩展不确定度 | 第57页 |
| ·扩展不确定度评定 | 第57-59页 |
| 第6章 总结和展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
