太阳能电池硅片缺陷自动检测分类方法研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| ·太阳能电池发展历史和现状 | 第11页 |
| ·全球光伏产业背景及现状 | 第11-12页 |
| ·太阳能电池表面质量检测的发展现状 | 第12-13页 |
| ·论文的内容安排 | 第13-15页 |
| 第二章 硅片缺陷检测系统硬件方案 | 第15-20页 |
| ·光致发光检测技术 | 第15页 |
| ·常见的缺陷类型 | 第15-17页 |
| ·检测系统硬件结构 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-20页 |
| 第三章 图像预处理与目标分割 | 第20-35页 |
| ·图像去噪 | 第20-21页 |
| ·图像增强 | 第21-23页 |
| ·边缘检测 | 第23-26页 |
| ·霍夫变换 | 第26-29页 |
| ·图像旋转 | 第29-32页 |
| ·目标硅片分割 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-35页 |
| 第四章 缺陷分割与特征提取 | 第35-66页 |
| ·光致发光图像分析 | 第35-36页 |
| ·缺陷特征分析 | 第36-39页 |
| ·多晶硅片缺陷分析 | 第36-38页 |
| ·单晶硅片缺陷分析 | 第38-39页 |
| ·多晶硅片缺陷分割 | 第39-44页 |
| ·曲面拟合 | 第39-42页 |
| ·曲线拟合 | 第42-44页 |
| ·缺陷特征提取 | 第44-65页 |
| ·多晶硅片缺陷特征提取 | 第44-47页 |
| ·单晶硅片缺陷特征提取 | 第47-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第五章 硅片缺陷检测分类与实现 | 第66-75页 |
| ·缺陷检测分类方法 | 第67-70页 |
| ·检测系统软件流程设计 | 第70-71页 |
| ·检测系统软件实现 | 第71-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 第六章 总结与展望 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文与专利 | 第84页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第84页 |
| 攻读硕士学位期间发表的专利 | 第84页 |
