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一维电子体系及铁基超导体电荷序的扫描隧道显微术研究

摘要第1-7页
ABSTRACT第7-12页
第1章 扫描隧道显微术简介第12-36页
   ·STM基本工作原理及模型第12-16页
     ·电子隧穿与一维隧穿模型第12页
     ·STM的基本原理第12-13页
     ·STM的工作模式第13-14页
     ·扫描隧道谱第14-16页
   ·超高真空扫描隧道显微镜的基本组成及构造第16-22页
     ·样品制备室的主要构造第17-18页
     ·扫描隧道显微镜的主要构造第18-20页
     ·自制的恒高模式的扫描隧道显微镜第20-22页
   ·一维体系的扫描隧道显微学研究第22-29页
     ·一维体系的电子性质第22-25页
     ·电荷密度波第25-27页
     ·自旋密度波与Luttinger液体第27页
     ·利用扫描隧道显微术对半导体衬底上的原子链进行的研究第27-29页
   ·强关联高温超导体的扫描隧道显微学研究第29-33页
     ·强关联体系的介绍第29-30页
     ·高温超导的扫描隧道显微术研究第30-33页
   ·本论文的研究内容第33-34页
 参考文献第34-36页
第2章 Si(111)上In原子链上的拓扑孤子研究第36-60页
   ·背景介绍第36-42页
     ·Si(111)-(4×1)-In表面简介第36-39页
     ·孤子简介第39-42页
   ·Si(111)-(8×2)-In链上的孤子第42-50页
     ·Si(111)-(8×2)-In链上孤子的形貌第42-45页
     ·Si(111)-(8×2)-In系统中孤子的生成能测量第45-47页
     ·Si(111)-(8×2)-In系统中孤子的运动以及激活能测量第47-50页
     ·Si(111)-(8×2)-In系统中孤子的长度测量第50页
   ·Si(111)-(8×2)-In系统中针尖对孤子运动的影响第50-51页
   ·Si(111)-(8×2)-In系统中双个孤子的形貌和运动情况第51-56页
     ·不同链上孤子靠近后形成二聚体的形貌特征第51-53页
     ·孤子形成二聚体后的密度和动力学特征第53-54页
     ·同条链上两孤子相遇时的动力学特征第54-56页
   ·本章小节第56-57页
 参考文献第57-60页
第3章 Si(111)-(8×2)-In表面不均匀性的STM研究第60-81页
   ·Si(111)-In一维体系的相变简介第60-62页
   ·样品的制备第62-63页
   ·表面不均匀性的观察第63-69页
     ·缺陷密度对表面不均匀性的影响第63-65页
     ·缺陷对表面电子态的影响第65-69页
   ·针尖电场对表面不均匀性的影响第69-74页
     ·表面涨落的观察第69-71页
     ·表面上正偏压为绝缘相负偏压为金属相的特殊重构第71-73页
     ·特殊重构区域的涨落特性第73-74页
   ·针尖电场对重构的调控第74-78页
     ·脉冲电场对重构的影响第74-75页
     ·高偏压对重构的影响第75-76页
     ·大电流对重构的影响第76-78页
   ·本章小节第78-79页
 参考文献第79-81页
第4章 基于Si(111)-(4×1)-In重构的一维模板上的分子自组装第81-92页
   ·背景介绍第81-82页
   ·实验结果第82-88页
     ·低覆盖度的情况第83页
     ·中覆盖度的情况第83-87页
     ·高覆盖度的情况第87-88页
   ·本章小节第88-89页
 参考文献第89-92页
第5章 铁基超导体BaFe_(2-x)Co_xAs_2的扫描隧道显微学研究第92-113页
   ·背景介绍第92-94页
   ·BaFe_(2-x)Co_xAs_2表面结构和特性第94-96页
   ·BaFe_(2-x)Co_xAs_2 (?)×(?)重构的特性研究第96-107页
     ·不同掺杂浓度下(?)×(?)重构第96-101页
     ·不同掺杂浓度下(?)×(?)重构表面电子态的特性研究第101-107页
   ·BaFe_(1.8)Co_(0.2)As_2 1×1重构的研究第107-109页
   ·本章小节第109-111页
 参考文献第111-113页
结论与展望第113-114页
在读期间发表的学术论文及其它研究成果第114-115页
致谢第115-116页

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