| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-10页 |
| 1.2 国外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 国内研究现状 | 第11-12页 |
| 1.4 论文研究内容及研究意义 | 第12-13页 |
| 1.5 论文组织结构 | 第13-15页 |
| 第二章 多导体传输线理论 | 第15-25页 |
| 2.1 多导体传输线方程 | 第15-17页 |
| 2.2 单位长度电感矩阵 | 第17-19页 |
| 2.2.1 以一根导体为参考的单位长度电感矩阵 | 第17-18页 |
| 2.2.2 以无限理想平面为参考的单位长度电感矩阵 | 第18-19页 |
| 2.3 单位长度电容矩阵 | 第19-21页 |
| 2.4 单位长度参数矩阵求解 | 第21-23页 |
| 2.4.1 三线传输线系统 | 第22页 |
| 2.4.2 四线传输线模型 | 第22-23页 |
| 2.5 本章小结 | 第23-25页 |
| 第三章 不均匀双绞线串扰 | 第25-51页 |
| 3.1 单线-不均匀双绞线串扰模型 | 第26-34页 |
| 3.1.1 芯线平行段模型的建立 | 第27-29页 |
| 3.1.2 扭距不均匀段模型的建立 | 第29-31页 |
| 3.1.3 芯线间距不均匀段模型的建立 | 第31-33页 |
| 3.1.4 结合终端条件的终端响应求解 | 第33-34页 |
| 3.2 不均匀双绞线串扰模型验证 | 第34-45页 |
| 3.2.1 双绞线端接方式 | 第34-36页 |
| 3.2.2 单线-不均匀双绞线串扰实验 | 第36-41页 |
| 3.2.3 单线-不均匀双绞线串扰实验结果 | 第41-42页 |
| 3.2.4 模型仿真结果与实验结果比较 | 第42-45页 |
| 3.3 单线-不均匀双绞线串扰模型的应用 | 第45-50页 |
| 3.3.1 双绞线人为破坏程度对其串扰的影响 | 第46-47页 |
| 3.3.2 双绞线人为破坏半扭绞位置对其串扰的影响 | 第47页 |
| 3.3.3 双绞线终端扭绞解开间距对其串扰的影响 | 第47-49页 |
| 3.3.4 双绞线扭距不均匀性对其串扰的影响 | 第49-50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 不均匀双绞线辐照 | 第51-67页 |
| 4.1 不均匀双绞线辐照模型 | 第51-55页 |
| 4.1.1 入射场激励求解 | 第51-55页 |
| 4.1.2 终端电压的求解 | 第55页 |
| 4.2 不均匀双绞线辐照模型验证 | 第55-62页 |
| 4.2.1 实验原理 | 第56页 |
| 4.2.2 实验设备及试样 | 第56-58页 |
| 4.2.3 实验步骤 | 第58-59页 |
| 4.2.4 实验结果 | 第59-60页 |
| 4.2.5 模型仿真结果与实验结果比较 | 第60-62页 |
| 4.3 不均匀双绞线辐照模型应用 | 第62-66页 |
| 4.3.1 双绞线人为破坏程度对其辐照终端响应的影响 | 第62-63页 |
| 4.3.2 双绞线人为破坏位置对其辐照终端响应的影响 | 第63-64页 |
| 4.3.3 双绞线终端扭绞解开间距对其辐照终端响应的影响 | 第64-65页 |
| 4.3.4 双绞线扭距不均匀性对其辐照终端响应的影响 | 第65-66页 |
| 4.4 本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 5.1 本文总结 | 第67-68页 |
| 5.2 本文展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
