摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-10页 |
第1章 绪论 | 第10-16页 |
·课题的研究目的及意义 | 第10-11页 |
·可靠性数据处理方法概述 | 第11-12页 |
·Bayes方法的国内外研究现状 | 第12-14页 |
·Bayes方法的国外研究现状 | 第12-13页 |
·Bayes方法的国内研究现状 | 第13-14页 |
·本文主要研究内容 | 第14-16页 |
第2章 Bayes方法的基本原理 | 第16-24页 |
·引言 | 第16页 |
·可靠性统计推断所应用的信息及其处理方法 | 第16-20页 |
·总体信息 | 第16页 |
·样本信息 | 第16-17页 |
·先验信息及其处理方法 | 第17-20页 |
·Bayes方法的基本观点及Bayes公式 | 第20-21页 |
·Bayes方法的基本观点 | 第20页 |
·Bayes公式 | 第20-21页 |
·Bayes方法的评价 | 第21-22页 |
·Bayes方法的优点 | 第21-22页 |
·Bayes方法的不足 | 第22页 |
·本章小结 | 第22-24页 |
第3章 基于Bayes方法的继电器可靠性验证试验设计 | 第24-42页 |
·引言 | 第24页 |
·可靠性抽样检查 | 第24-27页 |
·可靠性抽样检查方案的分类 | 第24-26页 |
·可靠性抽样检查方案的特性曲线 | 第26-27页 |
·序贯后验加权检验方法 | 第27-33页 |
·决策区的划分 | 第28-31页 |
·截尾SPOT方案 | 第31-33页 |
·电磁继电器失效率等级验证试验方案 | 第33-41页 |
·经典验证试验方案 | 第33-35页 |
·失效率λ的先验分布 | 第35页 |
·Bayes验证试验的后验风险 | 第35-36页 |
·Bayes验证试验方案 | 第36-41页 |
·试验方案的结果比较 | 第41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第4章 基于Bayes方法的继电器可靠性评价 | 第42-57页 |
·引言 | 第42页 |
·经典统计推断 | 第42-46页 |
·经典方法的点估计 | 第42-44页 |
·经典方法的区间估计 | 第44-46页 |
·Bayes统计推断 | 第46-51页 |
·损失函数与Bayes点估计 | 第46-47页 |
·Bayes区间估计 | 第47-49页 |
·Bayes假设检验 | 第49-51页 |
·算例分析 | 第51-56页 |
·求取先验分布 | 第51-52页 |
·求取后验分布 | 第52-53页 |
·基于Bayes方法的评价结果 | 第53-54页 |
·基于经典方法的评价结果 | 第54-55页 |
·评价结果分析 | 第55-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
第5章 基于MATLAB的继电器可靠性验证试验设计软件包 | 第57-66页 |
·引言 | 第57页 |
·软件包的功能 | 第57-58页 |
·软件包的实现 | 第58-63页 |
·软件包的图形用户界面设计 | 第58-61页 |
·软件包的算法设计 | 第61-63页 |
·可靠性验证试验设计软件包简介 | 第63-64页 |
·软件包初始界面 | 第63页 |
·数据计算和结果显示界面 | 第63-64页 |
·本章小结 | 第64-66页 |
结论 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-71页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第71-73页 |
致谢 | 第73页 |