基于红外测温技术的工业热设备内部缺陷诊断方法
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-19页 |
| ·课题背景 | 第9-10页 |
| ·红外无损检测概述 | 第10-13页 |
| ·概述 | 第10-11页 |
| ·国内发展情况 | 第11-12页 |
| ·国外发展情况 | 第12-13页 |
| ·发展趋势 | 第13页 |
| ·反问题概述 | 第13-15页 |
| ·反问题的特点 | 第14页 |
| ·反问题研究方法概况 | 第14-15页 |
| ·导热反问题发展概况 | 第15-17页 |
| ·导热反问题概况 | 第15-16页 |
| ·导热反问题的研究方法及现状 | 第16-17页 |
| ·本文研究的意义和研究内容 | 第17-19页 |
| 2 红外热成像技术与红外诊断理论基础 | 第19-29页 |
| ·红外热像仪的基本原理 | 第19-20页 |
| ·红外热成像技术的理论依据 | 第20-25页 |
| ·黑体的红外辐射规律 | 第20-22页 |
| ·实际物体的红外辐射特性 | 第22-23页 |
| ·影响红外辐射的主要因素 | 第23-24页 |
| ·被测物体表面辐射率ε的作用与环境辐射的影响 | 第24-25页 |
| ·工业设备内部缺陷的红外诊断 | 第25-28页 |
| ·工业设备缺陷信息的红外探测原理 | 第25-26页 |
| ·工业设备内部缺陷热传递的基本规律 | 第26-27页 |
| ·设备内部缺陷红外诊断理论和方法 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 3 导热正问题的有限元求解 | 第29-44页 |
| ·模型的建立 | 第29-30页 |
| ·有限元简介 | 第30-34页 |
| ·有限元基本原理 | 第31页 |
| ·有限元求解的基本步骤 | 第31-32页 |
| ·微分方程的等效积分形式 | 第32-33页 |
| ·加权余量法 | 第33-34页 |
| ·热传导方程的有限元解法 | 第34-42页 |
| ·热传导方程的变分 | 第34-35页 |
| ·单元剖分和温度场的离散 | 第35-40页 |
| ·温度场单元变分计算 | 第40-42页 |
| ·有限单元法的总体合成 | 第42页 |
| ·本章小结 | 第42-44页 |
| 4 热设备内部缺陷诊断的反问题算法 | 第44-53页 |
| ·最优化方法 | 第44-49页 |
| ·概述 | 第44-46页 |
| ·最速下降法 | 第46-47页 |
| ·共轭梯度法 | 第47-49页 |
| ·导热反问题的求解 | 第49-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 5 数值试验及结果分析 | 第53-73页 |
| ·数值试验步骤 | 第53页 |
| ·内部缺陷的红外特征规律 | 第53-56页 |
| ·金属管道数值试验 | 第56-65页 |
| ·三种典型缺陷的反演结果 | 第57-60页 |
| ·不同测量误差对结果的影响 | 第60-62页 |
| ·不同初始值对结果的影响 | 第62-63页 |
| ·边界条件对结果的影响 | 第63-64页 |
| ·外壁面节点数目对结果的影响 | 第64-65页 |
| ·炉膛衬里数值试验 | 第65-71页 |
| ·三种典型缺陷的反演结果 | 第66-69页 |
| ·不同测量误差对结果的影响 | 第69-71页 |
| ·计算时间的分析 | 第71页 |
| ·本章小结 | 第71-73页 |
| 6 结论与展望 | 第73-75页 |
| ·结论 | 第73页 |
| ·展望 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 附录 | 第80-82页 |
