| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-19页 |
| ·研究背景及意义 | 第8-10页 |
| ·无源毫米波成像技术的发展及其应用 | 第10-15页 |
| ·图像的复原技术 | 第15-17页 |
| ·论文的主要工作与结构安排 | 第17-19页 |
| 第二章 无源毫米波成像系统 | 第19-32页 |
| ·无源毫米波成像的理论基础—辐射测量理论 | 第19-24页 |
| ·电磁辐射的数学描述 | 第19-20页 |
| ·黑体辐射原理 | 第20-22页 |
| ·物体辐射特性 | 第22-24页 |
| ·无源毫米波成像系统的工作原理 | 第24-30页 |
| ·典型的无源毫米波成像的基本工作过程 | 第24页 |
| ·微波辐射测量原理 | 第24-26页 |
| ·成像接收机工作原理 | 第26-30页 |
| ·数字无源毫米波图像复原问题的提出 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 无源毫米波焦平面成像技术及仿真 | 第32-46页 |
| ·毫米波焦平面阵列成像技术分析 | 第33-37页 |
| ·焦平面成像的一般描述 | 第33页 |
| ·毫米波焦平面成像技术指标分析 | 第33-37页 |
| ·焦平面成像的系统仿真 | 第37-45页 |
| ·天线温度的计算 | 第37页 |
| ·波束扫描方式分析 | 第37-39页 |
| ·仿真结果与分析 | 第39-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 无源毫米波图像处理技术研究 | 第46-75页 |
| ·问题的提出 | 第46-47页 |
| ·天线辐射方向图对亮温分布的平滑作用 | 第47-48页 |
| ·成像系统的退化变质模型 | 第48-51页 |
| ·图像的退化模型 | 第48-50页 |
| ·病态问题的求解 | 第50-51页 |
| ·图像复原方法 | 第51-53页 |
| ·图像超分辨率原理 | 第53-59页 |
| ·超分辨率算法的理论基础 | 第53-54页 |
| ·超分辨率复原的数学基础 | 第54-56页 |
| ·超分辨率的极限 | 第56-57页 |
| ·超分辨率的算法 | 第57-59页 |
| ·图像质量评价 | 第59-61页 |
| ·焦平面毫米波辐射图像的复原技术 | 第61-74页 |
| ·焦平面毫米波无源成像特点 | 第61-62页 |
| ·系统点扩展函数的获得与空变特性分析 | 第62-64页 |
| ·传统方法在焦平面毫米波辐射图像复原中的应用与分析 | 第64-67页 |
| ·一种新的迭代法在焦平面毫米波辐射图像复原中的应用与分析 | 第67-71页 |
| ·高分辨率图像恢复的非线性外推算法的改进 | 第71-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 第五章 总结与展望 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
| 在学期间的研究成果 | 第81-82页 |