| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| ·纳米科技与纳米材料 | 第8-9页 |
| ·氧吸附于碳化硅纳米管表面的研究背景 | 第9-10页 |
| ·本文的研究任务 | 第10-12页 |
| 第2章 理论计算基础 | 第12-22页 |
| ·绝热近似与Hartree-Fock近似 | 第12-14页 |
| ·密度泛函理论 | 第14-18页 |
| ·HK定理(Hohenberg-Kohn Theorem) | 第15页 |
| ·KS方程(Kohn-Sham方程) | 第15-16页 |
| ·局域密度近似(Local Density Approximation) | 第16-17页 |
| ·布洛赫定理 | 第17-18页 |
| ·赝势 | 第18-20页 |
| ·VASP介绍 | 第20-22页 |
| 第3章 氧原子吸附于完整与反位置缺陷碳化硅纳米管表面性质的研究 | 第22-34页 |
| ·引言 | 第22页 |
| ·计算方法 | 第22-23页 |
| ·分析与讨论 | 第23-31页 |
| ·小结 | 第31-34页 |
| 第4章 氧分子吸附于完整与缺陷碳化硅纳米管表面性质的研究 | 第34-50页 |
| ·引言 | 第34-35页 |
| ·计算方法 | 第35页 |
| ·分析与讨论 | 第35-48页 |
| ·小结 | 第48-50页 |
| 第5章 结论 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-58页 |
| 致谢 | 第58-60页 |
| 攻读硕士学位期间科研成果 | 第60页 |
