摘要 | 第1-9页 |
Abstract | 第9-10页 |
第1章 绪论 | 第10-21页 |
·课题来源、研究目的及其意义 | 第10-11页 |
·课题来源 | 第10-11页 |
·研究目的及意义 | 第11页 |
·课题相关的研究状况 | 第11-19页 |
·X射线实时成像检测系统的国内外研究状况 | 第11-18页 |
·平板探测器在 X 射线检测中的应用研究现状 | 第18-19页 |
·平板探测器的应用前景 | 第19页 |
·课题的主要工作及论文章节安排 | 第19-21页 |
·课题的主要研究工作 | 第19页 |
·论文的章节安排 | 第19-21页 |
第2章 X 射线成像检测的技术基础 | 第21-32页 |
·X 射线的性质、产生及其工艺条件 | 第21-23页 |
·X 射线的本质及性质 | 第21页 |
·X 射线的产生 | 第21-23页 |
·X 射线的工艺条件 | 第23页 |
·X 射线与物质的相互作用 | 第23-26页 |
·光电效应 | 第25页 |
·康普顿效应 | 第25-26页 |
·电子对效应 | 第26页 |
·瑞利散射 | 第26页 |
·X 射线衰减规律和检测原理 | 第26-28页 |
·X 射线透射物质的衰减规律 | 第26-27页 |
·X 射线检测的原理 | 第27-28页 |
·X射线检测成像灵敏度影响因素 | 第28-31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
第3章 平板探测器成像系统及成像质量评价 | 第32-47页 |
·平板探测器 X 射线数字成像系统 | 第32-36页 |
·DXR250RT 成像系统组成 | 第32-33页 |
·DXR250RT 的成像原理 | 第33-34页 |
·DXR250RT 的内部构造及性能特点 | 第34-36页 |
·平板探测器的成像过程及降噪 | 第36-40页 |
·平板探测器的成像过程 | 第36-37页 |
·平板探测器成像系统的噪声来源 | 第37-38页 |
·成像系统的降噪处理 | 第38-40页 |
·X 射线数字成像质量的评价方法 | 第40-46页 |
·调制传递函数 MTF(Module Transfer Function) | 第41-43页 |
·噪声功率谱 NPS(Noise Power Spectrum) | 第43-45页 |
·检测量子效率 DQE(Detective Quantum Efficiency) | 第45-46页 |
·噪声等价量子数 NEQ(Noise Equivalent Quanta) | 第46页 |
·本章小结 | 第46-47页 |
第4章 平板探测器数字图像的采集、显示及处理 | 第47-68页 |
·DXR250RT 平板探测器工作方式 | 第47-50页 |
·读触发模式 | 第47页 |
·射线照射方式 | 第47-48页 |
·触发同步的方式 | 第48-49页 |
·图像采集模式 | 第49页 |
·工作流程 | 第49-50页 |
·平板探测器 X 射线数字图像的采集 | 第50-53页 |
·图像采集模块接口方式 | 第50-51页 |
·图像采集模块接口文件 | 第51-52页 |
·图像采集模块设计 | 第52-53页 |
·平板探测器 X 射线数字图像的显示 | 第53-55页 |
·平板探测器 X 射线数字图像的处理 | 第55-66页 |
·X 射线检测数字图像及处理的特点 | 第55-56页 |
·数字图像处理的基本方法 | 第56-66页 |
·本章小结 | 第66-68页 |
第5章 平板探测器成像检测系统软件设计 | 第68-78页 |
·系统软件 | 第68-70页 |
·软件开发环境 | 第68页 |
·系统软件基本功能 | 第68-69页 |
·系统软件结构 | 第69-70页 |
·成像软件设计 | 第70-72页 |
·运动控制系统及软件设计 | 第72-77页 |
·运动控制方案 | 第72-75页 |
·控制软件结构 | 第75-76页 |
·软件功能与实现 | 第76-77页 |
·本章小结 | 第77-78页 |
结论与展望 | 第78-79页 |
参考文献 | 第79-82页 |
致谢 | 第82-83页 |
附录 A (攻读硕士学位期间所发表的学术论文目录) | 第83页 |