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低维合金表面上纳米岛的形成机理和性能研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-11页
1 绪论第11-30页
   ·研究背景第11-12页
   ·薄膜材料的制备方法第12-14页
     ·真空蒸发和分子束外延第13页
     ·溅射和反应溅射第13-14页
     ·化学气相沉积和金属有机化学气相沉积第14页
   ·薄膜材料的研究方法第14-18页
     ·X 射线衍射方法(XRD)第15-16页
     ·扫描电子显微镜(SEM)第16页
     ·透射电子显微镜(TEM)第16-17页
     ·能量散射X 射线光谱(EDX)第17-18页
   ·薄膜生长理论及其研究进展第18-23页
   ·纳米固体材料的性能和研究进展第23-28页
     ·紫外-可见光吸收第23-24页
     ·紫外到可见光的发射谱第24-28页
   ·本文的工作和目的第28-30页
2 实验方法和过程第30-32页
3 实验结果和讨论第32-65页
   ·不含 Au 缓冲层的 In 薄膜的生长研究第32-42页
   ·含有 Au 缓冲层的 In 纳米岛薄膜生长研究第42-49页
   ·低维合金(AU_3IN)表面上铟纳米岛的形成机理研究第49-53页
   ·磁控溅射各实验参数对铟纳米岛阵列的影响研究第53-60页
   ·铟氧化物(IN_2O_3)纳米岛的合成第60-63页
   ·IN_2O_3 纳米结构的光致发光研究第63-65页
4 结论第65-67页
5 铟氧化物(IN_2O_3)纳米岛阵列的场发射展望第67-69页
致谢第69-70页
参考文献第70-72页
附录 硕士期间完成、发表的论文目录第72页

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