基于ISO9000体系的光电子企业质量管理信息系统研究与应用
| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-4页 |
| 目录 | 第4-6页 |
| 第1章 绪论 | 第6-12页 |
| ·引言 | 第6页 |
| ·选题背景及研究意义 | 第6-8页 |
| ·国内外研究现状及发展趋势 | 第8-9页 |
| ·课题研究的意义及主要内容 | 第9-10页 |
| ·课题来源 | 第10页 |
| ·本章小结 | 第10-12页 |
| 第2章 ISO9000质量管理体系介绍 | 第12-21页 |
| ·质量管理的发展 | 第12-15页 |
| ·质量检验阶段 | 第12页 |
| ·统计质量控制阶段 | 第12-13页 |
| ·全面质量管理阶段 | 第13-14页 |
| ·质量体系保证及计算机辅助质量管理阶段 | 第14-15页 |
| ·ISO9000质量管理体系 | 第15-20页 |
| ·ISO9000质量管理体系的由来 | 第15-16页 |
| ·2000版ISO9000质量管理体系标准的结构 | 第16-17页 |
| ·ISO9000质量管理体系中的过程管理 | 第17-20页 |
| ·小结 | 第20-21页 |
| 第3章 光电子企业质量管理信息系统要求 | 第21-39页 |
| ·企业质量管理信息管理的现状 | 第21页 |
| ·光电子行业特点 | 第21-24页 |
| ·光电子元器件产品的特点 | 第21-23页 |
| ·光电子行业质量管理特点 | 第23-24页 |
| ·与质量检验信息相关的流程 | 第24-27页 |
| ·公司业务流程 | 第24-25页 |
| ·与质量相关的数据流程 | 第25-27页 |
| ·ISO9000体系中的质量信息管理 | 第27-31页 |
| ·质量记录控制 | 第27-28页 |
| ·不合格品控制流程及其控制要求 | 第28-30页 |
| ·纠正措施流程及其控制要求 | 第30-31页 |
| ·预防措施流程及其控制要求 | 第31页 |
| ·过程质量控制技术介绍 | 第31-37页 |
| ·SPC的概念 | 第32页 |
| ·SPC控制图的设计原理 | 第32-34页 |
| ·控制图的分类 | 第34-36页 |
| ·质量管理中控制图的使用 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 第4章 质量管理信息系统设计方案 | 第39-46页 |
| ·系统设计本身的指导思想 | 第39-40页 |
| ·系统功能结构设计思路 | 第40-43页 |
| ·功能结构设计 | 第40-41页 |
| ·具体功能结构作用 | 第41-43页 |
| ·数据库设计 | 第43-44页 |
| ·系统网络体系结构 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第5章 系统开发的关键技术及运行实例 | 第46-55页 |
| ·数据库访问技术 | 第46-48页 |
| ·系统运行实例 | 第48-54页 |
| ·质量基础数据初始化 | 第48-50页 |
| ·质量信息录入 | 第50-51页 |
| ·质量数据分析 | 第51-54页 |
| ·硬件需求 | 第54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第6章 总结与展望 | 第55-57页 |
| ·总结 | 第55页 |
| ·展望 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 附录 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第60页 |
