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PZT铁电薄膜的磁控溅射低温生长

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第一章 前言第7-20页
   ·铁电材料概述第7页
   ·铁电材料的分类第7-10页
   ·铁电薄膜的应用第10-11页
   ·PZT铁电薄膜的研究现状与进展第11-16页
     ·铁电薄膜的特性退变研究第11-13页
     ·高择优取向PZT铁电薄膜的制备研究第13-14页
     ·PZT铁电薄膜的低温生长技术研究第14-16页
   ·本课题研究的主要内容及意义第16-17页
 参考文献第17-20页
第二章 铁电薄膜的制备方法及及其测试技术第20-33页
   ·铁电薄膜制备方法第20-26页
     ·脉冲激光熔蒸(Pulsed Laser Ablation)第20页
     ·化学气相沉积(CVD)第20-22页
     ·溶胶-凝胶工艺(Sol-Gel)第22页
     ·分子束外延(MBE)第22-23页
     ·溅射法第23-26页
   ·CKJ-500D多靶磁控溅射镀膜系统第26-27页
   ·分析薄膜结构和参数的常用技术手段第27-31页
     ·X射线衍射(XRD)第27-28页
     ·扫描电子显微镜(SEM)第28-29页
     ·椭偏仪第29-31页
   ·铁电综合测试系统第31-32页
 参考文献第32-33页
第三章 LNO薄膜电极的制备及其结构第33-37页
   ·LNO薄膜的制备第33-34页
   ·LNO薄膜的热处理第34页
   ·LNO薄膜的结构第34-36页
     ·LNO薄膜的结晶取向第34-35页
     ·LNO薄膜的表面形貌第35-36页
   ·本章小结第36页
 参考文献第36-37页
第四章 PZT铁电薄膜的低温生长及其结构与电学性能第37-54页
   ·PZT铁电薄膜的低温生长工艺第37-38页
   ·PZT铁电薄膜的结构第38-42页
     ·X射线衍射(XRD)分析 PZT铁电薄膜的微观结构第38-40页
     ·原子力显微镜测试样品表面形貌第40-42页
   ·PZT铁电薄膜的电学特性第42-53页
     ·Ag顶电极的制备第43页
     ·PZT薄膜的电学性能第43-53页
   ·本章小结第53页
 参考文献第53-54页
第五章 实验的主要结论及研究工作展望第54-55页
   ·实验的主要结论第54页
   ·研究工作展望第54-55页
硕士期间发表的主要论文第55-56页
致谢第56页

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