微波功率器件研究
引言 | 第1-12页 |
·功率器件发展概述 | 第9-10页 |
·微波功率器件研究现状 | 第10-12页 |
第二章 微波功率器件基础 | 第12-30页 |
·碰撞电离与雪崩击穿原理~[1、2、7} | 第12-15页 |
·碰撞电离率的表达式 | 第12-13页 |
·载流子的雪崩倍增 | 第13-15页 |
·雪崩击穿的条件 | 第15页 |
·临界电场与穿通 | 第15-19页 |
·突变结击穿 | 第15-18页 |
·穿通二极管击穿 | 第18-19页 |
·RESURF技术 | 第19-21页 |
·p-n结电容 | 第21-24页 |
·耗尽近似下的势垒电容 | 第21-23页 |
·突变结势垒电容 | 第23-24页 |
·TMA/MEDICI简介~[22] | 第24-30页 |
·MEDICI的特点 | 第24页 |
·MEDICI模拟的基本方程和模拟网格 | 第24-26页 |
·MEDICI程序的常用物理模型 | 第26-30页 |
第三章 SiC MESFET特性研究 | 第30-45页 |
·材料制备与器件制造 | 第30-31页 |
·碳化硅的工艺制法 | 第30-31页 |
·SiC器件工艺 | 第31页 |
·MESFET概述 | 第31-32页 |
·用于微波功率器件的SiC MESFET结构设计 | 第32-36页 |
·SiC MESFET频率特性~[6] | 第36-40页 |
·器件频率特性与器件几何、物理参数的关系 | 第36-37页 |
·模拟结果 | 第37-40页 |
·小结 | 第40页 |
·SiC MESFET功率特性 | 第40-45页 |
·理论分析及模拟 | 第40-44页 |
·小结 | 第44-45页 |
第四章 微波横向功率MOS器件研究 | 第45-59页 |
·LDMOS结构概述 | 第45-47页 |
·CB原理简介 | 第47-52页 |
·SJ结构~[15] | 第47-48页 |
·异型掺杂岛结构~[4] | 第48-52页 |
·采用CB结构的微波RESURF LDMOS | 第52-59页 |
·理论分析 | 第53-55页 |
·模拟验证 | 第55-58页 |
·小结 | 第58-59页 |
结论 | 第59-60页 |
参考文献 | 第60-62页 |
致谢 | 第62页 |