| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-13页 |
| 第1章 引言 | 第13-16页 |
| ·选题依据及研究意义 | 第13-14页 |
| ·核辐射测量的基本原理与方法 | 第13-14页 |
| ·国内外研究现状 | 第14页 |
| ·本文主要研究的内容及主要特点 | 第14-16页 |
| 第2章 Time-To-Count测量方法理论研究 | 第16-25页 |
| ·放射性衰变的统计分布 | 第16-17页 |
| ·对辐射强度的估计 | 第17-19页 |
| ·Time-To-Count测量方法的基本理论 | 第19-22页 |
| ·Time-To-Count方法的蒙特卡罗模拟 | 第22-25页 |
| ·蒙特卡罗方法简介 | 第22-23页 |
| ·蒙特卡罗方法模拟 | 第23-25页 |
| 第3章 Time-To-Count辐射测量仪电路设计 | 第25-37页 |
| ·ARM7处理器LPC2132的特点 | 第25-28页 |
| ·概述 | 第25-27页 |
| ·主要特性 | 第27-28页 |
| ·Time-To-Count辐射测量仪的系统组成 | 第28-37页 |
| ·电源电路 | 第28-29页 |
| ·复位电路 | 第29-30页 |
| ·系统时钟电路 | 第30-31页 |
| ·JTAG接口电路 | 第31页 |
| ·LCD接口电路 | 第31-33页 |
| ·键盘接口电路 | 第33页 |
| ·I~2C接口电路 | 第33-34页 |
| ·G-M探测器连接电路 | 第34-37页 |
| 第4章 Time-To-Count辐射测量仪软件设计 | 第37-47页 |
| ·系统主程序及Time-To-Count原理的程序实现 | 第37-42页 |
| ·ARM7 LPC2132初始化 | 第37-40页 |
| ·Time-To-Count处理程序 | 第40-42页 |
| ·LCD程序编制 | 第42-45页 |
| ·键盘程序的编制 | 第45-47页 |
| 第5章 实验及数据分析 | 第47-52页 |
| ·杂质时间测量及辐射强度测量 | 第47页 |
| ·实验结果分析 | 第47-49页 |
| ·核辐射检测仪的改进建议 | 第49-52页 |
| 结论 | 第52-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
