12bit高速流水线ADC数字校正技术的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| ·课题研究的意义 | 第9-10页 |
| ·课题研究现状和发展趋势 | 第10-12页 |
| ·论文的结构及创新点 | 第12-14页 |
| 第2章 模数转换器性能分析 | 第14-31页 |
| ·模数转换器的分类 | 第14-19页 |
| ·FLASH ADC | 第14-15页 |
| ·逐次逼近型 ADC | 第15-17页 |
| ·Sigma-delta ADC | 第17-18页 |
| ·流水线 ADC | 第18-19页 |
| ·ADC 性能参数的介绍 | 第19-21页 |
| ·DNL&INL | 第19-20页 |
| ·SNR | 第20页 |
| ·THD | 第20-21页 |
| ·SNDR | 第21页 |
| ·SFDR | 第21页 |
| ·ENOB | 第21页 |
| ·流水线 ADC 中的非理想因素 | 第21-31页 |
| ·Sub-ADC 中的误差 | 第22页 |
| ·热噪声 | 第22-23页 |
| ·开关引入的误差 | 第23-26页 |
| ·Op-Amp 的有限增益 | 第26-27页 |
| ·运放的有限带宽 | 第27-29页 |
| ·电容的失配 | 第29-31页 |
| 第3章 双伪随机扰动校正算法 | 第31-47页 |
| ·流水线 ADC 校正算法简介 | 第31-33页 |
| ·Spit-ADC | 第31页 |
| ·低速高精度 ADC | 第31页 |
| ·Skip&Fill | 第31-32页 |
| ·GEC | 第32页 |
| ·Reference Scaling | 第32-33页 |
| ·增益误差中三阶扰动的校正 | 第33页 |
| ·MDAC 中误差 | 第33-35页 |
| ·双伪随机扰动校正算法 | 第35-40页 |
| ·伪随机测试信号的注入 | 第36-38页 |
| ·伪随机测试信号幅值的调制 | 第38-39页 |
| ·动态元件匹配 | 第39-40页 |
| ·数字校正过程 | 第40-41页 |
| ·建模及仿真结果 | 第41-47页 |
| 第4章 电路设计部分 | 第47-61页 |
| ·电路指标的计算 | 第47-52页 |
| ·运算放大器指标的计算 | 第47-48页 |
| ·采样电容及其缩减因子的确定 | 第48-52页 |
| ·电路部分的设计 | 第52-61页 |
| ·Gain-boosting 运算放大器 | 第52-55页 |
| ·S/H 电路模块 | 第55-57页 |
| ·Sub-ADC 电路的设计 | 第57-59页 |
| ·Clock generator | 第59-61页 |
| 第5章 总结与展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 作者简介及攻读硕士期间发表文章 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
