| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 英语缩略语表 | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-19页 |
| ·微处理器基本工作原理 | 第10-16页 |
| ·引言 | 第10-13页 |
| ·移动微处理器概述 | 第13页 |
| ·微处理器的结构 | 第13-16页 |
| ·微处理器的生产工艺简介 | 第16-18页 |
| ·晶元生产（Fabrication） | 第16-17页 |
| ·晶元电性能测试（E-test） | 第17页 |
| ·晶片测试（Wafer Sort） | 第17-18页 |
| ·封装及最终测试（Assembly and Final Test） | 第18页 |
| ·本论文的工作 | 第18-19页 |
| 第二章 45 纳米制成程移动处理器的测试方法分析 | 第19-29页 |
| ·移动处理器的发展现状 | 第19页 |
| ·基于制成和封装形式的可测性分析 | 第19-29页 |
| ·VIX/VOX 直流参数的测试 | 第19-21页 |
| ·VIX/VOX 直流参数测试的新方法（Boundary Scan） | 第21-22页 |
| ·边界扫描IEEE.1149 标准结构 | 第22-23页 |
| ·边界扫描测试程序的故障定位 | 第23-24页 |
| ·VIX/VOX 边界扫描测试程序的限定值 | 第24-29页 |
| 第三章 VIX/VOX 直流参数的测试分析与改进 | 第29-58页 |
| ·VIX/VOX 测试流程介绍 | 第29-33页 |
| ·测试流程 | 第29-30页 |
| ·VIX/VOX 测试流程 | 第30-31页 |
| ·VIX/VOX 失效分类 | 第31-33页 |
| ·VIX/VOX 产品测试描述 | 第33-47页 |
| ·VIX/VOX 测试代码 | 第33页 |
| ·VIX/VOX 测试条件 | 第33-47页 |
| ·VIX/VOX 边界扫描测试程序的限定值的测试改进方法 | 第47-53页 |
| ·合理设置VOL 的测试限定值的方法 | 第47-51页 |
| ·VOL 的测试限定值的方法验证 | 第51-53页 |
| ·VIX/VOX 边界扫描测试程序的故障定位的测试改进方法 | 第53-57页 |
| ·VIX/VOX 边界扫描测试程序的故障定位的测试改进方法 | 第53-57页 |
| ·本章小节 | 第57-58页 |
| 第四章 高速缓存的测试程序及方法 | 第58-67页 |
| ·英特尔微处理器高速缓存简介 | 第58-63页 |
| ·高速缓存对于微处理器的作用 | 第58页 |
| ·高速缓存的工作原理 | 第58-60页 |
| ·高速缓存的LRU 阵列及算法 | 第60-61页 |
| ·英特尔微处理器高速缓存的类型 | 第61-63页 |
| ·高速缓存的测试方法 | 第63-67页 |
| ·直接存取模式DAT MODE/DFT | 第63页 |
| ·可编程的内建自测试 | 第63-64页 |
| ·高速缓存的测试算法 | 第64-66页 |
| ·高速缓存的可测性设计 | 第66-67页 |
| 第五章 双核处理器测试程序及方法 | 第67-77页 |
| ·英特尔双核处理器测试中遇到的实际问题 | 第67-68页 |
| ·英特尔双核处理器的结构简介 | 第67-68页 |
| ·英特尔双核处理器的功能测试以及问题 | 第68页 |
| ·双核测试模式控制流程简介 | 第68-71页 |
| ·双核测试模式控制流程 | 第68-69页 |
| ·基本功能测试 | 第69-70页 |
| ·双核的测试方法 | 第70页 |
| ·FRC 模式 | 第70-71页 |
| ·双核FRC 测试模式验证 | 第71-77页 |
| ·失效芯片验证 | 第71-73页 |
| ·合格芯片验证 | 第73-76页 |
| ·验证小结 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第80-82页 |
