摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-9页 |
第1章 引言 | 第13-25页 |
1.1 磁约束核聚变 | 第13-14页 |
1.2 托卡马克装置与偏滤器 | 第14-18页 |
1.3 EAST托卡马克装置 | 第18-21页 |
1.4 EAST偏滤器 | 第21-23页 |
1.5 本文研究内容及意义 | 第23-25页 |
第2章 偏滤器探针测量理论概述 | 第25-47页 |
2.1 偏滤器区鞘层 | 第25-31页 |
2.1.1 偏滤器鞘层基本特性 | 第25-30页 |
2.1.2 偏滤器探针工作机制 | 第30-31页 |
2.2 静电探针测量方法 | 第31-40页 |
2.2.1 单探针 | 第31-33页 |
2.2.2 双探针 | 第33-36页 |
2.2.3 三探针 | 第36-37页 |
2.2.4 其他探针测量方法 | 第37-40页 |
2.3 影响静电探针测量的因素 | 第40-46页 |
2.3.1 磁场的影响 | 第40-42页 |
2.3.2 电子速度分布的影响 | 第42-44页 |
2.3.3 射频场的影响 | 第44-45页 |
2.3.4 二次电子发射的影响 | 第45-46页 |
2.4 本章小结 | 第46-47页 |
第3章 EAST钨偏滤器探针诊断系统研制 | 第47-92页 |
3.1 偏滤器探针诊断系统的发展 | 第47-49页 |
3.2 EAST偏滤器探针诊断系统的设计 | 第49-55页 |
3.2.1 诊断系统的框架结构 | 第49-50页 |
3.2.2 信号传输系统设计 | 第50-54页 |
3.2.3 电路测量系统设计 | 第54-55页 |
3.2.4 数据采集和远程控制系统设计 | 第55页 |
3.3 EAST钨偏滤器探针的设计与优化 | 第55-69页 |
3.3.1 上钨偏滤器探针的设计与分布 | 第55-62页 |
3.3.2 下钨偏滤器探针的设计与分布 | 第62-64页 |
3.3.3 探针的热力学分析 | 第64-69页 |
3.4 EAST偏滤器探针诊断数据处理的软件系统 | 第69-79页 |
3.4.1 EAST偏滤器探针诊断数据处理过程 | 第70-71页 |
3.4.2 软件系统的设计 | 第71-73页 |
3.4.3 软件系统的编译及操作流程设计 | 第73-79页 |
3.5 EAST偏滤器探针诊断系统测量实验 | 第79-90页 |
3.5.1 偏滤器靶板参数的测量 | 第79-82页 |
3.5.2 单探针,双探针和三探针方法对比 | 第82-86页 |
3.5.3 齐平探针的测量 | 第86-89页 |
3.5.4 鞘电位降系数的测量 | 第89-90页 |
3.6 本章小结 | 第90-92页 |
第4章 EAST钨偏滤器H-mode高密度脱靶特性研究 | 第92-124页 |
4.1 “两点”模型与偏滤器等离子体状态 | 第92-99页 |
4.1.1 “两点”模型 | 第93-94页 |
4.1.2 偏滤器等离子体状态 | 第94-99页 |
4.2 偏滤器等离子体脱靶研究现状 | 第99-109页 |
4.3 EAST上H-mode高密度脱靶基本特性 | 第109-115页 |
4.3.1 EAST上H-mode高密度脱靶的实现 | 第109-112页 |
4.3.2 粒子流和电子温度变化特性 | 第112-114页 |
4.3.3 上游密度和温度变化特性 | 第114-115页 |
4.4 辅助加热条件对脱靶阈值的影响 | 第115-118页 |
4.5 纵场方向对脱靶的影响 | 第118-122页 |
4.6 本章小结 | 第122-124页 |
第5章 EAST钨偏滤器靶板粒子流控制实验研究 | 第124-144页 |
5.1 偏滤器靶板粒子流控制机制 | 第124-127页 |
5.2 EAST钨偏滤器靶板粒子流控制的实现 | 第127-142页 |
5.2.1 等离子体密度控制方法 | 第127-130页 |
5.2.2 杂质充气方法 | 第130-142页 |
5.3 本章小结 | 第142-144页 |
第6章 总结与展望 | 第144-148页 |
参考文献 | 第148-157页 |
致谢 | 第157-159页 |
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第159-161页 |