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复合绝缘子污闪动态发展过程与影响因素研究

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第1章 绪论第9-17页
    1.1 课题研究背景及意义第9-10页
        1.1.1 课题研究背景第9-10页
        1.1.2 课题研究目的及意义第10页
    1.2 绝缘子产品国内外发展现状第10-12页
    1.3 绝缘子污闪研究国内外发展现状第12-15页
        1.3.1 绝缘子污闪试验研究第12-13页
        1.3.2 绝缘子污闪仿真研究第13-15页
    1.4 本文研究的主要内容第15-17页
第2章 绝缘子污闪机理及模型建立第17-22页
    2.1 绝缘子污闪机理和发展过程第17-18页
        2.1.1 绝缘子污闪机理第17页
        2.1.2 绝缘子污闪发展过程第17-18页
    2.2 绝缘子污闪奥本斯诺模型第18-19页
    2.3 绝缘子污闪放电干区数学模型及边界条件设定第19-21页
        2.3.1 数学方程第19-20页
        2.3.2 边界条件第20-21页
    2.4 本章小结第21-22页
第3章 绝缘子人工污秽试验第22-31页
    3.1 试品第22页
    3.2 试验原理及试验设备参数第22-25页
        3.2.1 试验原理第22-23页
        3.2.2 试验设备参数第23-25页
    3.3 试验准备与试验步骤第25-27页
        3.3.1 试验准备工作第25页
        3.3.2 试验步骤第25-27页
    3.4 污闪电弧发展过程及结果分析第27-29页
        3.4.1 污闪电弧发展过程第27-28页
        3.4.2 试验结果分析第28-29页
    3.5 本章小结第29-31页
第4章 绝缘子污闪动态发展过程的仿真分析第31-38页
    4.1 复合绝缘子仿真模型的建立第31-33页
        4.1.1 仿真模型第31-32页
        4.1.2 仿真参数第32-33页
    4.2 仿真结果分析第33-37页
        4.2.1 污闪电弧动态发展过程中温度场分布第33-35页
        4.2.2 污闪电弧动态发展过程中电场分布第35-36页
        4.2.3 污闪电弧动态发展过程中电流密度分布第36-37页
    4.3 本章小结第37-38页
第5章 绝缘子污闪动态发展过程影响因素研究第38-48页
    5.1 污秽电导率对绝缘子闪络的影响第38-41页
    5.2 干区个数对绝缘子闪络的影响第41-44页
    5.3 大气压强对绝缘子闪络的影响第44-46页
    5.4 本章小结第46-48页
第6章 结论与展望第48-50页
    6.1 结论第48页
    6.2 展望第48-50页
参考文献第50-54页
在学研究成果第54-55页
致谢第55页

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