摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-15页 |
·CMOS集成电路的发展历史及其意义 | 第10-11页 |
·CMOS运算放大器的整体结构 | 第11-12页 |
·CMOS高精度运算放大器的现状 | 第12-14页 |
·论文章节安排 | 第14-15页 |
第二章 CMOS放大器的设计基础 | 第15-24页 |
·MOS器件的构造和基本特性 | 第15-21页 |
·MOS管的结构和Ⅰ-Ⅴ特性 | 第15-17页 |
·MOS管的二级效应 | 第17-20页 |
·MOS管的小信号模型 | 第20-21页 |
·MOS管的噪声及其对精度的影响 | 第21-24页 |
·MOS管的热噪声和等效电路 | 第21页 |
·MOS管的闪烁噪声和等效电路 | 第21-22页 |
·MOS管的散粒噪声 | 第22-24页 |
第三章 CMOS运算放大器的性能指标与基本结构 | 第24-32页 |
·运算放大器 | 第24-25页 |
·CMOS运算放大器的基本结构 | 第25-28页 |
·CMOS运算放大器性能指标 | 第28-31页 |
·开环增益(open loop dc gain) | 第28页 |
·开环带宽和增益带宽积(band width and Gain Bandwidth Product) | 第28-29页 |
·输出摆幅(output swing) | 第29页 |
·转换速率与建立时间(slew rate and settling time) | 第29页 |
·相位裕度(phase margin,PM) | 第29页 |
·共模抑制比(common mode reject ratio,CMRR) | 第29-30页 |
·电源电压抑制比(power supply rejection ratio,PSRR) | 第30页 |
·功耗(power dissipation) | 第30页 |
·噪声(noise) | 第30-31页 |
·CMOS高精度运算放大器的主要性能指标 | 第31-32页 |
第四章 运算放大器电路的设计与分析 | 第32-58页 |
·设计目标 | 第32页 |
·运算放大器的结构选择 | 第32-33页 |
·输入级设计 | 第33-40页 |
·传统运算放大器的输入级设计 | 第33页 |
·折叠原理 | 第33-34页 |
·折叠式共源-共栅差动输入设计 | 第34-37页 |
·输入输出摆幅分析 | 第35-36页 |
·小信号增益分析 | 第36-37页 |
·自增益式技术(Gain Boosting)的折叠式共源-共栅差动输入设计 | 第37-40页 |
·Gain Boosting技术的基本原理 | 第37-39页 |
·采用Gain Boosting技术的折叠式共源-共栅差动输入级设计 | 第39-40页 |
·中间放大级设计 | 第40-42页 |
·低压宽摆幅共源-共栅电流镜电路 | 第40-41页 |
·中间放大级电路设计 | 第41-42页 |
·输出放大级设计 | 第42-45页 |
·共源输出放大器 | 第42-43页 |
·源极跟随器 | 第43-44页 |
·输出放大级的设计 | 第44-45页 |
·基准电路的设计 | 第45-48页 |
·带隙基准电压源 | 第45页 |
·PTAT基准电流源 | 第45-46页 |
·基准电流源的设计 | 第46-48页 |
·频率补偿电路设计 | 第48-54页 |
·反馈系统的稳定性 | 第48-49页 |
·运放的频率补偿 | 第49-54页 |
·运放频率补偿电路的设计 | 第54页 |
·斩波技术(Chopping)用于运放设计 | 第54-58页 |
·斩波技术原理 | 第55-56页 |
·调制电路的实现方法 | 第56-58页 |
第五章 运算放大器的HSPICE仿真 | 第58-65页 |
·运放开环增益特性分析 | 第58-59页 |
·运算放大器的直流传输特性分析 | 第59-62页 |
·失调电压 | 第59-60页 |
·转换速率和建立时间 | 第60页 |
·输入共模电压范围 | 第60-61页 |
·输出电压摆幅 | 第61-62页 |
·共模抑制比(CMRR)的测量 | 第62-63页 |
·电源抑制比(PSRR)的测量 | 第63-64页 |
·运算放大器的噪声特性曲线 | 第64-65页 |
第六章 结论与展望 | 第65-67页 |
致谢 | 第67-68页 |
附录 所设计的CMOS运算放大器电路图 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-73页 |
攻读硕士研究生期间发表的论文 | 第73页 |