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一种低压高精度CMOS运算放大器设计

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-10页
第一章 绪论第10-15页
   ·CMOS集成电路的发展历史及其意义第10-11页
   ·CMOS运算放大器的整体结构第11-12页
   ·CMOS高精度运算放大器的现状第12-14页
   ·论文章节安排第14-15页
第二章 CMOS放大器的设计基础第15-24页
   ·MOS器件的构造和基本特性第15-21页
     ·MOS管的结构和Ⅰ-Ⅴ特性第15-17页
     ·MOS管的二级效应第17-20页
     ·MOS管的小信号模型第20-21页
   ·MOS管的噪声及其对精度的影响第21-24页
     ·MOS管的热噪声和等效电路第21页
     ·MOS管的闪烁噪声和等效电路第21-22页
     ·MOS管的散粒噪声第22-24页
第三章 CMOS运算放大器的性能指标与基本结构第24-32页
   ·运算放大器第24-25页
   ·CMOS运算放大器的基本结构第25-28页
   ·CMOS运算放大器性能指标第28-31页
     ·开环增益(open loop dc gain)第28页
     ·开环带宽和增益带宽积(band width and Gain Bandwidth Product)第28-29页
     ·输出摆幅(output swing)第29页
     ·转换速率与建立时间(slew rate and settling time)第29页
     ·相位裕度(phase margin,PM)第29页
     ·共模抑制比(common mode reject ratio,CMRR)第29-30页
     ·电源电压抑制比(power supply rejection ratio,PSRR)第30页
     ·功耗(power dissipation)第30页
     ·噪声(noise)第30-31页
   ·CMOS高精度运算放大器的主要性能指标第31-32页
第四章 运算放大器电路的设计与分析第32-58页
   ·设计目标第32页
   ·运算放大器的结构选择第32-33页
   ·输入级设计第33-40页
     ·传统运算放大器的输入级设计第33页
     ·折叠原理第33-34页
     ·折叠式共源-共栅差动输入设计第34-37页
       ·输入输出摆幅分析第35-36页
       ·小信号增益分析第36-37页
     ·自增益式技术(Gain Boosting)的折叠式共源-共栅差动输入设计第37-40页
       ·Gain Boosting技术的基本原理第37-39页
       ·采用Gain Boosting技术的折叠式共源-共栅差动输入级设计第39-40页
   ·中间放大级设计第40-42页
     ·低压宽摆幅共源-共栅电流镜电路第40-41页
     ·中间放大级电路设计第41-42页
   ·输出放大级设计第42-45页
     ·共源输出放大器第42-43页
     ·源极跟随器第43-44页
     ·输出放大级的设计第44-45页
   ·基准电路的设计第45-48页
     ·带隙基准电压源第45页
     ·PTAT基准电流源第45-46页
     ·基准电流源的设计第46-48页
   ·频率补偿电路设计第48-54页
     ·反馈系统的稳定性第48-49页
     ·运放的频率补偿第49-54页
     ·运放频率补偿电路的设计第54页
   ·斩波技术(Chopping)用于运放设计第54-58页
     ·斩波技术原理第55-56页
     ·调制电路的实现方法第56-58页
第五章 运算放大器的HSPICE仿真第58-65页
   ·运放开环增益特性分析第58-59页
   ·运算放大器的直流传输特性分析第59-62页
     ·失调电压第59-60页
     ·转换速率和建立时间第60页
     ·输入共模电压范围第60-61页
     ·输出电压摆幅第61-62页
   ·共模抑制比(CMRR)的测量第62-63页
   ·电源抑制比(PSRR)的测量第63-64页
   ·运算放大器的噪声特性曲线第64-65页
第六章 结论与展望第65-67页
致谢第67-68页
附录 所设计的CMOS运算放大器电路图第68-69页
参考文献第69-73页
攻读硕士研究生期间发表的论文第73页

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