基于C8051F061的微机补偿晶体振荡器
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 插图索引 | 第9-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-23页 |
| ·研究背景 | 第12页 |
| ·石英晶体振荡器简介 | 第12-16页 |
| ·石英谐振器简介 | 第12-15页 |
| ·石英晶体振荡器分类 | 第15-16页 |
| ·温度补偿晶体振荡器 | 第16-19页 |
| ·模拟温度补偿晶体振荡器(TCXO) | 第17-18页 |
| ·数字温度补偿晶体振荡器(DTCXO) | 第18-19页 |
| ·微机补偿晶体振荡器(MCXO) | 第19页 |
| ·微机补偿晶体振荡器的发展现状和趋势 | 第19-21页 |
| ·发展现状 | 第19-21页 |
| ·发展趋势 | 第21页 |
| ·本文研究内容 | 第21-23页 |
| 第2章 微机补偿晶体振荡器的系统设计 | 第23-54页 |
| ·系统总体设计 | 第23-25页 |
| ·系统功能框图及工作原理 | 第23-24页 |
| ·系统性能指标 | 第24-25页 |
| ·振荡电路的设计 | 第25-31页 |
| ·晶体谐振器的选取 | 第25页 |
| ·振荡电路概述 | 第25-26页 |
| ·主振级电路 | 第26-31页 |
| ·CMOS反相器振荡电路 | 第26-30页 |
| ·实用电路形式 | 第30-31页 |
| ·具有预偏置电压的压控电路 | 第31-41页 |
| ·晶体振荡器压控特性非线性的产生原因 | 第32-38页 |
| ·晶体谐振器压控特性非线性 | 第32-34页 |
| ·变容二极管的非线性 | 第34-35页 |
| ·变容二极管的整流效应 | 第35-38页 |
| ·样品测试结果 | 第38-41页 |
| ·微处理器C8051F061 | 第41-46页 |
| ·ADC | 第42-44页 |
| ·DAC | 第44-45页 |
| ·振荡器 | 第45-46页 |
| ·JTAG | 第46页 |
| ·温度传感器电路 | 第46-49页 |
| ·温度传感器——铂电阻 | 第46-47页 |
| ·传感器转换电路 | 第47-49页 |
| ·数模转换器MAX5203及其输出电路 | 第49-50页 |
| ·系统低功耗处理 | 第50-52页 |
| ·PCB板可靠性设计 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第3章 系统软件设计 | 第54-63页 |
| ·方案概述 | 第54-55页 |
| ·定标过程 | 第55-57页 |
| ·U_c—T测量/校准程序 | 第55页 |
| ·休闲程序 | 第55-56页 |
| ·老化补偿数据的测量 | 第56页 |
| ·频率微调校准 | 第56-57页 |
| ·工作程序 | 第57-60页 |
| ·补偿电压U_c形成过程的软件设计 | 第57-58页 |
| ·埃特金逐次线性插值法 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-63页 |
| 第4章 样机测试结果报告 | 第63-67页 |
| ·频率温度稳定度测试结果 | 第63-65页 |
| ·输出频率及波形 | 第65-67页 |
| 结论与展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 附录A (攻读学位期间所发表学术论文) | 第72页 |
