| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-29页 |
| 1.1 引言 | 第11-12页 |
| 1.2 CsPbX_3纳米晶的合成 | 第12-16页 |
| 1.2.1 热注入法合成CsPbX_3纳米晶 | 第13-14页 |
| 1.2.2 阴离子交换法合成CsPbX_3纳米晶 | 第14-15页 |
| 1.2.3 过饱和结晶法合成CsPbX_3纳米晶 | 第15-16页 |
| 1.3 固态CsPbX_3纳米材料的合成 | 第16-18页 |
| 1.4 CsPbX_3量子点的改性与修饰 | 第18-22页 |
| 1.4.1 CsPbX_3量子点的表面修饰 | 第19-20页 |
| 1.4.2 掺杂离子替换铅元素 | 第20-22页 |
| 1.5 CsPbX_3量子点材料的应用 | 第22-26页 |
| 1.5.1 太阳能电池 | 第22-23页 |
| 1.5.2 非线性光学材料 | 第23-24页 |
| 1.5.3 发光二极管(LED) | 第24-26页 |
| 1.6 本论文研究的意义和主要内容 | 第26-29页 |
| 1.6.1 CsPbX_3量子点的合成与光学性质的研究 | 第26页 |
| 1.6.2 CsPbX_3量子点薄膜复合材料的制备及复合机理研究 | 第26页 |
| 1.6.3 CsPbX_3量子点微晶玻璃的低温共烧法制备及复合机理研究 | 第26-27页 |
| 1.6.4 CsPbX_3量子点制备白光LED器件的性能及发光机理研究 | 第27-29页 |
| 第二章 实验内容及测试表征技术 | 第29-34页 |
| 2.1 实验方法 | 第29-31页 |
| 2.1.1 实验试剂 | 第29页 |
| 2.1.2 实验仪器 | 第29-30页 |
| 2.1.3 实验工艺 | 第30-31页 |
| 2.2 测试分析手段 | 第31-34页 |
| 2.2.1 X射线衍射仪(XRD) | 第32页 |
| 2.2.2 透射电子显微镜(TEM) | 第32页 |
| 2.2.3 X射线光电子能谱分析(XPS) | 第32页 |
| 2.2.4 紫外可见吸收光谱(UV-Vis) | 第32页 |
| 2.2.5 三阶非线性光学性质(NLO) | 第32页 |
| 2.2.6 荧光发射光谱(PL) | 第32-33页 |
| 2.2.7 荧光寿命 | 第33页 |
| 2.2.8 电光参数测试 | 第33-34页 |
| 第三章 CsPbX_3纳米晶溶液的制备及光学性质的研究 | 第34-46页 |
| 3.1 引言 | 第34-35页 |
| 3.2 实验部分 | 第35-36页 |
| 3.2.1 实验仪器与试剂 | 第35页 |
| 3.2.2 实验步骤 | 第35-36页 |
| 3.2.3 样品表征 | 第36页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第36-45页 |
| 3.3.1 X射线衍射(XRD)分析 | 第36-37页 |
| 3.3.2 透射电子显微镜(TEM)分析 | 第37-38页 |
| 3.3.3 X射线光电子能谱(XPS)分析 | 第38-39页 |
| 3.3.4 荧光光谱分析 | 第39-40页 |
| 3.3.5 紫外-可见吸收光谱分析 | 第40-42页 |
| 3.3.6 荧光动力学过程分析 | 第42-43页 |
| 3.3.7 三阶非线性光学性质 | 第43-45页 |
| 3.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 CsPbX_3纳米晶薄膜材料的制备及光学性质的研究 | 第46-58页 |
| 4.1 引言 | 第46-47页 |
| 4.2 实验部分 | 第47-48页 |
| 4.2.1 实验仪器与试剂 | 第47页 |
| 4.2.2 实验步骤 | 第47-48页 |
| 4.2.3 样品表征 | 第48页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第48-56页 |
| 4.3.1 X射线衍射(XRD)分析 | 第48-49页 |
| 4.3.2 荧光光谱分析 | 第49-51页 |
| 4.3.3 CsPbX_3纳米晶环氧树脂薄膜在白光LED器件的应用 | 第51-56页 |
| 4.4 本章小结 | 第56-58页 |
| 第五章 CsPbX_3量子点玻璃的制备及光学性质的研究 | 第58-68页 |
| 5.1 引言 | 第58页 |
| 5.2 实验部分 | 第58-60页 |
| 5.2.1 实验仪器与试剂 | 第58-59页 |
| 5.2.2 实验步骤 | 第59页 |
| 5.2.3 样品表征 | 第59-60页 |
| 5.3 结果和讨论 | 第60-67页 |
| 5.3.1 差热-质谱分析(DSC-MS) | 第60页 |
| 5.3.2 X射线衍射(XRD)分析 | 第60-62页 |
| 5.3.3 透射电子显微镜(TEM)分析 | 第62-63页 |
| 5.3.4 带隙能分析 | 第63-64页 |
| 5.3.5 荧光光谱分析 | 第64-65页 |
| 5.3.6 荧光动力学过程分析 | 第65-66页 |
| 5.3.7 稳定性分析 | 第66-67页 |
| 5.4 本章小结 | 第67-68页 |
| 第六章 结论与展望 | 第68-70页 |
| 6.1 结论 | 第68-69页 |
| 6.2 未来的工作方向 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |
| 硕士期间发表的学术论文 | 第80页 |
| 申请专利 | 第80页 |
| 参与科研项目 | 第80页 |
