贴片机片式芯片MELF检测系统的研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第7-14页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第7-10页 |
| 1.1.1 贴片机概述 | 第7-9页 |
| 1.1.2 机器视觉概述 | 第9-10页 |
| 1.1.3 研究目的及意义 | 第10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 论文研究内容及章节安排 | 第12-14页 |
| 第2章 片式芯片MELF检测技术分析 | 第14-24页 |
| 2.1 检测任务 | 第14-15页 |
| 2.2 检测方案分析 | 第15-21页 |
| 2.2.1 二值化方案 | 第15-19页 |
| 2.2.2 模板匹配方案 | 第19-21页 |
| 2.3 检测方案确定 | 第21-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 芯片检测预处理算法 | 第24-38页 |
| 3.1 建立匹配模板 | 第24-27页 |
| 3.1.1 模板的关键要素 | 第24-25页 |
| 3.1.2 模板的生成 | 第25-27页 |
| 3.2 边缘图像获取 | 第27-37页 |
| 3.2.1 基于梯度的边缘检测 | 第28-33页 |
| 3.2.1.1 Sobel算子 | 第29-31页 |
| 3.2.1.2 Laplace算子 | 第31-33页 |
| 3.2.2 Canny边缘检测算法 | 第33-36页 |
| 3.2.3 确定边缘检测方法 | 第36-37页 |
| 3.3 本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 芯片粗定位算法 | 第38-51页 |
| 4.1 距离变换 | 第38-43页 |
| 4.1.1 距离变换的基本原理 | 第39-41页 |
| 4.1.2 对芯片图像进行距离变换 | 第41-43页 |
| 4.2 模板匹配的实现 | 第43-50页 |
| 4.2.1 常用的基于灰度的匹配方法 | 第43-46页 |
| 4.2.2 金字塔算法 | 第46-48页 |
| 4.2.3 模板匹配流程 | 第48-50页 |
| 4.3 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 芯片精确定位算法 | 第51-61页 |
| 5.1 边缘跟踪算法及实现 | 第51-57页 |
| 5.1.1 边缘跟踪算法 | 第52-54页 |
| 5.1.2 关键边缘点的提取 | 第54-57页 |
| 5.2 提取最小外接矩形 | 第57-60页 |
| 5.2.1 根据关键点的凸包提取 | 第57-59页 |
| 5.2.2 根据凸多边形提取最小外接矩形 | 第59-60页 |
| 5.2.3 实验结果 | 第60页 |
| 5.3 本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其他成果 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
