| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-21页 |
| 1.1 本文研究工作的背景与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究历史与现状 | 第11-19页 |
| 1.2.1 数控机床误差来源分析 | 第11-13页 |
| 1.2.2 五轴数控机床精度检验研究现状 | 第13-17页 |
| 1.2.3 曲线插值拟合重构常用方法 | 第17-18页 |
| 1.2.4 直纹面及其加工研究现状 | 第18-19页 |
| 1.3 本文的主要内容 | 第19-21页 |
| 第二章“S”形检验试件上下基线插值拟合重构及优化研究 | 第21-37页 |
| 2.1 三次均匀B样条插值原理 | 第21-25页 |
| 2.1.1 三次均匀B样条基函数推导 | 第21-23页 |
| 2.1.2“S”试件上下基线插值分析 | 第23-25页 |
| 2.2“S”试件上下基线多项式插值重构 | 第25-27页 |
| 2.2.1 多项式插值原理分析 | 第25-26页 |
| 2.2.2 多项式插值分析 | 第26-27页 |
| 2.3“S”试件上下基线三次样条函数插值重构 | 第27-30页 |
| 2.3.1 三次样条函数特点及插值原理介绍 | 第27-29页 |
| 2.3.2 三次样条插值分析 | 第29-30页 |
| 2.4“S”试件上下基线三次均匀B样条逼近和优化 | 第30-36页 |
| 2.4.1 三次均匀B样条插值边界分析 | 第30页 |
| 2.4.2 三次均匀B样条插值逼近 | 第30-32页 |
| 2.4.3 控制点圆整优化和对比分析 | 第32-36页 |
| 2.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章“S”形检验试件三维数学建模 | 第37-48页 |
| 3.1 三次B样条曲面插值介绍 | 第37-38页 |
| 3.1.1 B样条曲面构建数学原理分析 | 第37页 |
| 3.1.2 双三次B样条曲面插值 | 第37-38页 |
| 3.2 蒙皮法构造“S”试件型面 | 第38-40页 |
| 3.2.1 蒙皮法简介 | 第38-39页 |
| 3.2.2 构造“S”试件型面 | 第39-40页 |
| 3.3 扫掠法构造“S”试件型面 | 第40-45页 |
| 3.3.1 直纹面定义及性质分析 | 第40-43页 |
| 3.3.2 等参数法扫掠构造“S”试件直纹面 | 第43-45页 |
| 3.4“S”试件曲面比较分析 | 第45-47页 |
| 3.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章“S”形检验试件特性对比分析 | 第48-65页 |
| 4.1“S”试件典型几何特性对比分析 | 第48-56页 |
| 4.1.1“S”试件开闭角对比分析 | 第48-50页 |
| 4.1.2“S”试件曲率及连续性对比分析 | 第50-53页 |
| 4.1.3“S”试件扭曲角对比分析 | 第53-56页 |
| 4.2“S”试件典型加工特性对比分析 | 第56-64页 |
| 4.2.1“S”试件数控编程 | 第56-58页 |
| 4.2.2 各轴理想加工速度加速度计算及对比分析 | 第58-62页 |
| 4.2.3“S”试件奇异点分析 | 第62-64页 |
| 4.3 本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 5.1 本文研究总结 | 第65页 |
| 5.2 下一步工作展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第71-72页 |