摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第12-29页 |
1.1 课题背景及研究意义 | 第12-13页 |
1.2 Heusler合金 | 第13-17页 |
1.2.1 Heusler合金的晶体结构及原子占位 | 第13-16页 |
1.2.2 Heusler合金的发展概况及潜在应用 | 第16-17页 |
1.3 六角MM’X合金体系 | 第17-20页 |
1.3.1 MM’X合金的结构和磁性 | 第18-20页 |
1.3.2 MM’X合金的研究现状和潜在价值 | 第20页 |
1.4 反常霍尔效应 | 第20-23页 |
1.4.1 Karplus和Luttinger本征机制 | 第21-22页 |
1.4.2 Skewscattering机制 | 第22页 |
1.4.3 Sidejump机制 | 第22-23页 |
1.5 斯格明子 | 第23-28页 |
1.5.1 斯格明子的发现 | 第23-25页 |
1.5.2 斯格明子与拓扑霍尔效应 | 第25-26页 |
1.5.3 产生斯格明子的机制 | 第26-27页 |
1.5.4 斯格明子材料的研究现状 | 第27-28页 |
1.6 本文的主要研究内容 | 第28-29页 |
第2章 实验方法和实验原理 | 第29-38页 |
2.1 薄膜样品的制备 | 第29-31页 |
2.1.1 磁控溅射法 | 第29-30页 |
2.1.2 实验设备 | 第30-31页 |
2.2 结构表征及设备 | 第31-34页 |
2.2.1 物相结构(XRD)分析 | 第31-32页 |
2.2.2 薄膜厚度的测量 | 第32-34页 |
2.3 物性测量及设备 | 第34-37页 |
2.3.1 扫描电子显微镜与能谱分析仪 | 第34页 |
2.3.2 超导量子干涉磁强计(SQUID) | 第34-35页 |
2.3.3 综合物性测量系统(PPMS) | 第35页 |
2.3.4 电输运性能测量 | 第35-37页 |
2.4 理论计算方法 | 第37页 |
2.5 本章小结 | 第37-38页 |
第3章 Heusler合金Mn2PtSn薄膜的磁性和物性研究 | 第38-53页 |
3.1 引言 | 第38页 |
3.2 实验和理论计算方法 | 第38-39页 |
3.3 结果与讨论 | 第39-51页 |
3.3.1 Mn2PtSn合金的晶体结构和能带分析 | 第39-42页 |
3.3.2 Mn2PtSn合金薄膜的磁性 | 第42-45页 |
3.3.3 Mn2PtSn薄膜的磁输运性能 | 第45-47页 |
3.3.4 Mn2PtSn薄膜的反常霍尔效应 | 第47页 |
3.3.5 Mn2PtSn薄膜的拓扑霍尔效应 | 第47-51页 |
3.5 本章小结 | 第51-53页 |
第4章 沉积温度对六角MnNiGa薄膜的磁性和物性影响 | 第53-64页 |
4.1 引言 | 第53页 |
4.2 实验和理论计算方法 | 第53-54页 |
4.3 结果与讨论 | 第54-62页 |
4.3.1 六角MnNiGa合金的晶体结构和能带分析 | 第54-57页 |
4.3.2 沉积温度对六角MnNiGa薄膜的磁性影响 | 第57-58页 |
4.3.3 沉积温度对六角MnNiGa薄膜的输运性能影响 | 第58-62页 |
4.4 本章小结 | 第62-64页 |
第5章 沉积厚度对六角MnNiGa薄膜的磁性和物性影响 | 第64-72页 |
5.1 引言 | 第64页 |
5.2 实验方法 | 第64页 |
5.3 结果与讨论 | 第64-70页 |
5.3.1 沉积厚度对六角MnNiGa薄膜的晶体结构影响 | 第64-67页 |
5.3.2 沉积厚度对六角MnNiGa薄膜的磁性与输运性能影响 | 第67-70页 |
5.4 本章小结 | 第70-72页 |
第6章 Mn含量对六角MnNiGa薄膜的磁性和物性影响 | 第72-86页 |
6.1 引言 | 第72页 |
6.2 薄膜样品的制备 | 第72-73页 |
6.3 结果与讨论 | 第73-84页 |
6.3.1 Mn含量对六角MnNiGa薄膜的晶体结构影响 | 第73-76页 |
6.3.2 Mn含量对六角MnNiGa薄膜的磁性影响 | 第76-79页 |
6.3.3 Mn含量对六角MnNiGa薄膜的输运性能影响 | 第79-84页 |
6.4 本章小结 | 第84-86页 |
结论 | 第86-87页 |
参考文献 | 第87-96页 |
攻读博士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第96-97页 |
致谢 | 第97页 |