基于虚拟仪器的IGBT老化电参量自动测试系统的研究与开发
| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 课题提出和来源 | 第9-10页 |
| 1.2 IGBT 老化电参量研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 加速老化试验方法介绍 | 第10-11页 |
| 1.2.2 老化进程中电参量研究 | 第11-12页 |
| 1.3 IGBT 电参量测试技术研究现状 | 第12-17页 |
| 1.3.1 国内外测试设备的现状 | 第12-13页 |
| 1.3.2 测试方法现状 | 第13-17页 |
| 1.4 本论文主要研究内容 | 第17-19页 |
| 2 老化电参量的选取及外部影响因素分析 | 第19-31页 |
| 2.1 IGBT 模块的失效机理 | 第19-23页 |
| 2.1.1 与模块封装有关的失效 | 第19-21页 |
| 2.1.2 与芯片有关的失效 | 第21-22页 |
| 2.1.3 IGBT 模块老化失效与电参量的关系 | 第22-23页 |
| 2.2 IGBT 电参量的外部影响因素分析 | 第23-28页 |
| 2.2.1 饱和压降 | 第23-25页 |
| 2.2.2 关断时间 | 第25-28页 |
| 2.2.3 阈值电压 | 第28页 |
| 2.3 测试系统需求分析 | 第28-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 3 IGBT 电参量自动测试系统的研制 | 第31-49页 |
| 3.1 测试系统的硬件设计 | 第31-37页 |
| 3.1.1 总体结构 | 第31-32页 |
| 3.1.2 测试原理 | 第32-33页 |
| 3.1.3 测试设备的选取 | 第33-37页 |
| 3.2 测试系统的软件设计 | 第37-47页 |
| 3.2.1 仪器控制模块 | 第38-42页 |
| 3.2.2 数据采集模块 | 第42-43页 |
| 3.2.3 数据处理模块 | 第43-44页 |
| 3.2.4 数据管理模块 | 第44-46页 |
| 3.2.5 总体功能软件设计 | 第46-47页 |
| 3.3 本章小结 | 第47-49页 |
| 4 测试系统的验证及应用 | 第49-71页 |
| 4.1 测试系统功能实现 | 第49-50页 |
| 4.2 系统测量误差理论分析 | 第50-52页 |
| 4.3 系统重复性测试 | 第52-59页 |
| 4.3.1 单个测试点重复测试（短时间） | 第52-55页 |
| 4.3.2 不同时间段重复测试（长时间） | 第55-59页 |
| 4.4 测试结果分析 | 第59-63页 |
| 4.5 老化进程中电参量的采集与分析 | 第63-68页 |
| 4.5.1 功率循环加速老化试验工作原理 | 第63-64页 |
| 4.5.2 老化进程中电参量的变化分析 | 第64-68页 |
| 4.6 本章小结 | 第68-71页 |
| 5 结论与展望 | 第71-73页 |
| 5.1 论文工作总结 | 第71-72页 |
| 5.2 后续研究工作展望 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 附录 | 第79页 |
| A. 作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第79页 |
| B. 作者在攻读硕士学位期间参与的科研项目 | 第79页 |
