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高能粒子探测器低能段载荷数据处理系统设计

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第1章 引言第10-14页
    1.1 课题研究背景及意义第10-11页
    1.2 国内外研究现状第11-12页
    1.3 课题来源第12页
    1.4 系统总体构架及主要内容第12-14页
第2章 系统总体设计原理及技术第14-20页
    2.1 高能粒子探测器概述第14-15页
    2.2 低能段载荷概述第15-16页
        2.2.1 探测器部分第15-16页
        2.2.2 数据处理系统第16页
        2.2.3 数管系统第16页
    2.3 技术指标第16-17页
    2.4 数据处理系统总体设计第17-19页
        2.4.1 RS422接口第17-18页
        2.4.2 系统总体设计第18-19页
    2.5 数据处理系统开发环境第19页
        2.5.1 硬件开发环境第19页
        2.5.2 软件开发环境第19页
    2.6 本章小结第19-20页
第3章 系统硬件设计第20-32页
    3.1 FPGA选型第20页
    3.2 数据采集及发送模块设计第20-27页
        3.2.1 科学数据采集模块设计第21-24页
        3.2.2 工程数据采集模块设计第24-27页
        3.2.3 数据发送模块第27页
    3.3 指令接收及存储模块设计第27-29页
        3.3.1 指令接收第28页
        3.3.2 指令存储第28-29页
    3.4 电源模块设计第29-30页
    3.5 硬件PCB设计第30-31页
    3.6 本章小结第31-32页
第4章 系统软件设计第32-54页
    4.1 FPGA程序框架第32-33页
    4.2 复位及看门狗程序设计第33-34页
    4.3 数据处理程序设计第34-45页
        4.3.1 科学数据采集及处理第34-38页
        4.3.2 工程数据采集及处理第38-43页
        4.3.3 数据发送模块第43-45页
    4.4 指令接收存储及处理程序设计第45-53页
        4.4.1 指令接收第45-47页
        4.4.2 指令存储第47-49页
        4.4.3 指令执行第49-53页
    4.5 分频模块程序设计第53页
    4.6 本章小结第53-54页
第5章 数据处理系统测试第54-70页
    5.0 测试流程简述第54页
    5.1 芯片测试第54-59页
        5.1.1 tlc2543芯片测试第54-55页
        5.1.2 EEPROM芯片测试第55-57页
        5.1.3 DAC芯片测试第57-58页
        5.1.4 DAC和EEPROM联调测试第58-59页
    5.2 软件逻辑测试第59-62页
        5.2.1 科学数据逻辑验证第59-61页
        5.2.2 工程数据逻辑验证第61-62页
    5.3 系统整体测试第62-64页
    5.4 与其他系统联调测试第64-67页
        5.4.1 接收指令验证第64-66页
        5.4.2 工程数据验证第66-67页
    5.5 数据分析和处理第67-69页
    5.6 本章小结第69-70页
结论第70-72页
致谢第72-74页
参考文献第74-76页
攻读学位期间取得学术成果第76页

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