| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 引言 | 第8-16页 |
| 1.1 研究背景 | 第8-11页 |
| 1.1.1 高能物理实验 | 第8-9页 |
| 1.1.2 粒子对撞机 | 第9页 |
| 1.1.3 粒子分类与探测技术 | 第9-11页 |
| 1.2 半导体探测器 | 第11-13页 |
| 1.3 论文的主要工作和结构 | 第13-16页 |
| 1.3.1 论文的主要工作 | 第13-14页 |
| 1.3.2 论文的结构 | 第14-16页 |
| 第二章 CMOS硅像素探测器与测试系统 | 第16-26页 |
| 2.1 CMOS硅像素探测器的研究背景 | 第16-17页 |
| 2.2 CMOS硅像素探测器的介绍 | 第17-21页 |
| 2.2.1 CMOS芯片的结构布局 | 第17页 |
| 2.2.2 CMOS芯片的工作原理 | 第17-20页 |
| 2.2.3 CMOS芯片的数据结构 | 第20-21页 |
| 2.3 测试工具FPGA | 第21-26页 |
| 2.3.1 PCI Express总线 | 第22-23页 |
| 2.3.2 FPGA数据采集卡 | 第23-26页 |
| 第三章 测试系统的设计过程 | 第26-40页 |
| 3.1 测试系统的工作原理 | 第26-27页 |
| 3.2 数据处理工作 | 第27-30页 |
| 3.2.1 ADC模数转换器 | 第27-29页 |
| 3.2.2 数字信号的串并转换 | 第29-30页 |
| 3.3 FPGA高速采集卡设计 | 第30-37页 |
| 3.3.1 FPGA的代码设计 | 第30-33页 |
| 3.3.2 串并转换模块设计 | 第33-35页 |
| 3.3.3 数据传输的时序逻辑 | 第35-37页 |
| 3.4 FPGA与PC机的数据传输 | 第37-40页 |
| 3.4.1 驱动程序Xillybus-windriver | 第37-38页 |
| 3.4.2 数据传输机制 | 第38-40页 |
| 第四章 测试系统的控制 | 第40-46页 |
| 4.1 数据采集控制 | 第40-42页 |
| 4.2 数据传输监测系统 | 第42-46页 |
| 第五章 测试系统的性能测试与讨论 | 第46-50页 |
| 5.1 数据采集测试 | 第46-47页 |
| 5.2 数据传输速度测试 | 第47-48页 |
| 5.3 数据传输误码率测试 | 第48-50页 |
| 第六章 总结 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 致谢 | 第54-56页 |
| 攻读硕士期间发表的学术论文目录 | 第56-57页 |