| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 传导干扰的产生和危害 | 第9页 |
| 1.2 电源滤波器简介 | 第9-10页 |
| 1.3 影响电源滤波器性能的外部因素及研究现状 | 第10-13页 |
| 1.3.1 外部因素对滤波器性能的影响 | 第10页 |
| 1.3.2 外部因素对滤波器性能影响的研究现状 | 第10-13页 |
| 1.4 论文的组织结构 | 第13-15页 |
| 第二章 电源滤波器原理介绍 | 第15-23页 |
| 2.1 电源滤波器设计原理 | 第15-16页 |
| 2.1.1 二端口网络基础 | 第15-16页 |
| 2.1.2 电路结构 | 第16页 |
| 2.2 电源滤波器的主要性能参数 | 第16-20页 |
| 2.2.1 电源滤波器的插入损耗 | 第17-18页 |
| 2.2.2 电源滤波器的反射损耗 | 第18-19页 |
| 2.2.3 反射系数与插入损耗的表示 | 第19-20页 |
| 2.3 电源滤波器的设计 | 第20-22页 |
| 2.3.1 电源滤波器的结构选择 | 第20-21页 |
| 2.3.2 电源滤波器的元件选择 | 第21-22页 |
| 2.4 本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 温度与直流偏置对电源滤波器性能的影响机理 | 第23-35页 |
| 3.1 电源滤波器中各参数的对应关系 | 第23-26页 |
| 3.1.1 磁芯磁导率与共模扼流圈电感值的对应关系 | 第23-24页 |
| 3.1.2 元件阻抗值与滤波器S参数的对应关系 | 第24-26页 |
| 3.2 温度对电源滤波器性能的影响 | 第26-29页 |
| 3.2.1 温度对电容器电容值的影响 | 第26页 |
| 3.2.2 温度对共模扼流圈电感值的影响 | 第26-29页 |
| 3.2.3 温度对电源滤波器S参数的影响 | 第29页 |
| 3.3 直流偏置对电源滤波器性能的影响 | 第29-34页 |
| 3.3.1 直流偏置对电容器电容值的影响 | 第29页 |
| 3.3.2 直流偏置对共模扼流圈电感值的影响 | 第29-32页 |
| 3.3.3 直流偏置对电源滤波器S参数的影响 | 第32页 |
| 3.3.4 直流偏置对滤波器饱和的影响 | 第32-34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 温度对滤波器性能影响的试验研究 | 第35-51页 |
| 4.1 温度影响下元件的阻抗测试设计 | 第35-42页 |
| 4.1.1 阻抗测试方法的选择 | 第35-36页 |
| 4.1.2 阻抗测试平台的搭建 | 第36-39页 |
| 4.1.3 测试结果与分析 | 第39-42页 |
| 4.2 温度影响下电源滤波器S参数测试设计 | 第42-49页 |
| 4.2.1 反射系数测试平台的搭建 | 第42-43页 |
| 4.2.2 插入损耗测试平台的搭建 | 第43-44页 |
| 4.2.3 测试结果与分析 | 第44-49页 |
| 4.3 本章小结 | 第49-51页 |
| 第五章 直流偏置对滤波器性能影响的试验研究 | 第51-63页 |
| 5.1 直流偏置影响下共模扼流圈的阻抗测试设计 | 第51-55页 |
| 5.1.1 加载测试的技术要点 | 第51-52页 |
| 5.1.2 阻抗测试平台的搭建 | 第52-53页 |
| 5.1.3 测试结果与分析 | 第53-55页 |
| 5.2 直流偏置影响下滤波器性能测试设计 | 第55-61页 |
| 5.2.1 加载测试方案的设计 | 第55-57页 |
| 5.2.2 反射系数测试平台的搭建 | 第57-58页 |
| 5.2.3 插入损耗测试平台的搭建 | 第58-59页 |
| 5.2.4 测试结果与分析 | 第59-61页 |
| 5.3 本章小结 | 第61-63页 |
| 第六章 电源滤波器抗饱和技术研究 | 第63-69页 |
| 6.1 改变线圈绕制的抗饱和措施 | 第63-65页 |
| 6.1.1 绕制方法的介绍 | 第63页 |
| 6.1.2 线圈绕制的技术要点 | 第63-64页 |
| 6.1.3 抗饱和绕制方法的提出 | 第64-65页 |
| 6.2 抗饱和措施的试验验证 | 第65-67页 |
| 6.2.1 测试方法 | 第65页 |
| 6.2.2 结果与分析 | 第65-67页 |
| 6.3 本章小结 | 第67-69页 |
| 第七章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-74页 |