摘要 | 第6-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第11-22页 |
1.1 课题背景及意义 | 第11-13页 |
1.2 课题的研究现状及分析 | 第13-20页 |
1.2.1 IGBT及其测试技术研究现状 | 第13-17页 |
1.2.2 结温监测研究现状 | 第17-20页 |
1.3 课题研究内容 | 第20-22页 |
第2章 大功率IGBT模块动态开关特性自动化测试系统 | 第22-41页 |
2.1 IGBT开关动态测试平台硬件设计 | 第22-26页 |
2.1.1 开关动态特性测试电路与控制时序 | 第22-23页 |
2.1.2 测试系统硬件与时序设计 | 第23-26页 |
2.2 IGBT开关特性参数的自动化测试软件实现 | 第26-33页 |
2.2.1 基于Labview的自动化控制系统 | 第26-27页 |
2.2.2 仪器控制 | 第27-30页 |
2.2.3 数据处理 | 第30-33页 |
2.3 大功率IGBT开关动态特性提取 | 第33-35页 |
2.4 控制系统界面与测试系统样机 | 第35-38页 |
2.5 IGBT动态开关特性测试实例 | 第38-40页 |
2.6 本章小结 | 第40-41页 |
第3章 IGBT开关特性与运行参数的关系分析 | 第41-56页 |
3.1 被测器件及测试条件 | 第41-42页 |
3.2 测试电压对开关特性的影响 | 第42-45页 |
3.3 测试电流对开关特性的影响 | 第45-48页 |
3.4 驱动电阻对IGBT开通特性的影响 | 第48-51页 |
3.5 工作结温对IGBT开关特性的影响 | 第51-55页 |
3.6 本章小结 | 第55-56页 |
第4章 基于关断延迟时间的IGBT模块结温监测 | 第56-69页 |
4.1 热敏电参数结温提取方法概述 | 第56-58页 |
4.2 基于关断延迟时间的IGBT结温提取 | 第58-64页 |
4.2.1 IGBT模块封装结构 | 第58页 |
4.2.2 考虑模块内部寄生电感的IGBT模块关断特性分析 | 第58-61页 |
4.2.3 关断延迟时间影响因素特性分析 | 第61-64页 |
4.3 IGBT模块离线测试实验验证 | 第64-68页 |
4.3.1 温度对IGBT关断过程的影响 | 第64-66页 |
4.3.2 温度对关断延时时间的影响验证 | 第66-67页 |
4.3.3 关断电压电流对关断延迟时间的影响 | 第67-68页 |
4.4 本章小结 | 第68-69页 |
第5章 总结与展望 | 第69-71页 |
5.1 论文工作总结 | 第69页 |
5.2 论文工作展望 | 第69-71页 |
参考文献 | 第71-76页 |
攻读硕士期间发表的论文 | 第76-77页 |
致谢 | 第77页 |