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少子寿命分布对快恢复二极管特性影响的仿真研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第8-11页
    1.1 研制快恢复二极管的意义第8页
    1.2 快恢复二极管的国内外研究动态第8-9页
    1.3 论文的主要工作第9-11页
第2章 FRD特性的理论分析第11-22页
    2.1 FRD的阻断特性第11-13页
        2.1.1 穿通结构的阻断特性第11-12页
        2.1.2 非穿通结构的阻断特性第12-13页
    2.2 FRD的通态特性第13-15页
    2.3 FRD的反向恢复特性第15-21页
    2.4 FRD的综合特性分析第21-22页
第3章 复合与寿命第22-32页
    3.1 复合中心复合第22-24页
    3.2 大注入寿命第24-25页
    3.3 小注入寿命第25页
    3.4 空间电荷产生寿命第25-27页
    3.5 大注入器件复合能级的优化第27-29页
    3.6 局域寿命控制技术的优势第29-30页
    3.7 本章小结第30-32页
第4章 FRD仿真模型与仿真方法第32-37页
    4.1 PiN二极管结构参数的设计第32-33页
    4.2 Silvaco软件简介第33-34页
    4.3 主要物理模型的选取第34-35页
    4.4 用于反向恢复特性仿真的电路分析第35-36页
    4.5 主要仿真方法第36-37页
第5章 FRD特性仿真与结构参数优化第37-52页
    5.1 低寿命区位置对反向恢复特性影响的仿真分析第37-40页
        5.1.1 低寿命区位置对软度因子的影响分析第37-39页
        5.1.2 低寿命区位置对反向峰值电流的影响分析第39页
        5.1.3 低寿命区位置对反向恢复时间的影响分析第39-40页
    5.2 局域寿命控制对通态特性的影响分析第40-43页
    5.3 低寿命区寿命值对反向恢复特性影响的仿真分析第43-47页
        5.3.1 低寿命区寿命值对软度因子的影响分析第43-45页
        5.3.2 低寿命区寿命值对反向峰值电流的影响分析第45-46页
        5.3.3 低寿命区寿命值对反向恢复时间的影响分析第46-47页
    5.4 局域少子寿命控制对载流子分布影响的分析第47-51页
    5.5 本章小结第51-52页
第6章 FRD测试结果分析第52-62页
    6.1 PN结边缘造型技术第52-53页
    6.2 局域寿命控制技术制作FRD的工艺简介第53-55页
    6.3 实验样品电参数测试结果第55-61页
        6.3.1 第一批实验参数第55-57页
        6.3.2 第二批实验参数第57-58页
        6.3.3 第三批实验参数第58-61页
    6.4 本章小结第61-62页
第7章 结论第62-63页
参考文献第63-66页
在学研究成果第66-67页
致谢第67页

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