摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第1章 绪论 | 第8-11页 |
1.1 研制快恢复二极管的意义 | 第8页 |
1.2 快恢复二极管的国内外研究动态 | 第8-9页 |
1.3 论文的主要工作 | 第9-11页 |
第2章 FRD特性的理论分析 | 第11-22页 |
2.1 FRD的阻断特性 | 第11-13页 |
2.1.1 穿通结构的阻断特性 | 第11-12页 |
2.1.2 非穿通结构的阻断特性 | 第12-13页 |
2.2 FRD的通态特性 | 第13-15页 |
2.3 FRD的反向恢复特性 | 第15-21页 |
2.4 FRD的综合特性分析 | 第21-22页 |
第3章 复合与寿命 | 第22-32页 |
3.1 复合中心复合 | 第22-24页 |
3.2 大注入寿命 | 第24-25页 |
3.3 小注入寿命 | 第25页 |
3.4 空间电荷产生寿命 | 第25-27页 |
3.5 大注入器件复合能级的优化 | 第27-29页 |
3.6 局域寿命控制技术的优势 | 第29-30页 |
3.7 本章小结 | 第30-32页 |
第4章 FRD仿真模型与仿真方法 | 第32-37页 |
4.1 PiN二极管结构参数的设计 | 第32-33页 |
4.2 Silvaco软件简介 | 第33-34页 |
4.3 主要物理模型的选取 | 第34-35页 |
4.4 用于反向恢复特性仿真的电路分析 | 第35-36页 |
4.5 主要仿真方法 | 第36-37页 |
第5章 FRD特性仿真与结构参数优化 | 第37-52页 |
5.1 低寿命区位置对反向恢复特性影响的仿真分析 | 第37-40页 |
5.1.1 低寿命区位置对软度因子的影响分析 | 第37-39页 |
5.1.2 低寿命区位置对反向峰值电流的影响分析 | 第39页 |
5.1.3 低寿命区位置对反向恢复时间的影响分析 | 第39-40页 |
5.2 局域寿命控制对通态特性的影响分析 | 第40-43页 |
5.3 低寿命区寿命值对反向恢复特性影响的仿真分析 | 第43-47页 |
5.3.1 低寿命区寿命值对软度因子的影响分析 | 第43-45页 |
5.3.2 低寿命区寿命值对反向峰值电流的影响分析 | 第45-46页 |
5.3.3 低寿命区寿命值对反向恢复时间的影响分析 | 第46-47页 |
5.4 局域少子寿命控制对载流子分布影响的分析 | 第47-51页 |
5.5 本章小结 | 第51-52页 |
第6章 FRD测试结果分析 | 第52-62页 |
6.1 PN结边缘造型技术 | 第52-53页 |
6.2 局域寿命控制技术制作FRD的工艺简介 | 第53-55页 |
6.3 实验样品电参数测试结果 | 第55-61页 |
6.3.1 第一批实验参数 | 第55-57页 |
6.3.2 第二批实验参数 | 第57-58页 |
6.3.3 第三批实验参数 | 第58-61页 |
6.4 本章小结 | 第61-62页 |
第7章 结论 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-66页 |
在学研究成果 | 第66-67页 |
致谢 | 第67页 |