| 摘要 | 第8-10页 |
| Abstract | 第10-11页 |
| 第一章 引言 | 第12-17页 |
| 第二章 宇宙线物理 | 第17-32页 |
| 2.1 宇宙线 | 第17-18页 |
| 2.1.1 宇宙线的发现 | 第17页 |
| 2.1.2 宇宙线与粒子物理 | 第17页 |
| 2.1.3 宇宙线与天体物理 | 第17-18页 |
| 2.2 宇宙线的成分 | 第18-19页 |
| 2.3 宇宙线的能谱 | 第19-21页 |
| 2.4 宇宙线的起源,加速和传播 | 第21-24页 |
| 2.4.1 宇宙线的起源 | 第21-22页 |
| 2.4.2 宇宙线的加速机制 | 第22-23页 |
| 2.4.3 宇宙线的传播 | 第23-24页 |
| 2.5 宇宙线的观测 | 第24-32页 |
| 2.5.1 直接观测 | 第24-26页 |
| 2.5.2 间接观测 | 第26-32页 |
| 第三章 水切伦科夫探测器 | 第32-45页 |
| 3.1 切伦科夫辐射 | 第32-34页 |
| 3.2 水切伦科夫探测器工作原理 | 第34页 |
| 3.3 水切伦科夫探测器的优势 | 第34页 |
| 3.4 水切伦柯夫探测器阵列与实验 | 第34-45页 |
| 3.4.1 超级神冈探测器(The Super-Kamiokande detector) | 第34-36页 |
| 3.4.2 Milagro | 第36-38页 |
| 3.4.3 HAWC | 第38-39页 |
| 3.4.4 Pierre Auger Observatory | 第39-41页 |
| 3.4.5 IceCube | 第41-43页 |
| 3.4.6 大亚湾中微子实验 | 第43-45页 |
| 第四章 LHAASO计划和WCDA实验 | 第45-54页 |
| 4.1 LHAASO 计划 | 第45-50页 |
| 4.1.1 LHAASO计划的科学目标 | 第45页 |
| 4.1.2 LHAASO的探测器构成 | 第45-49页 |
| 4.1.3 LHAASO优势 | 第49-50页 |
| 4.2 水切伦科夫探测器阵列 | 第50-54页 |
| 4.2.1 单元探测器 | 第50-51页 |
| 4.2.2 探测器阵列及其优势 | 第51-54页 |
| 第五章 WCDA读出性能要求及测试方法 | 第54-71页 |
| 5.1 WCDA读出性能要求 | 第54-56页 |
| 5.1.1 WCDA对光电倍增管性能指标要求 | 第54页 |
| 5.1.2 WCDA光电倍增管的选型 | 第54-56页 |
| 5.2 R5912性能及测量方法研究 | 第56-66页 |
| 5.2.1 单光电子谱及测量方法 | 第56-59页 |
| 5.2.2 增益及高压响应及测量方法 | 第59-60页 |
| 5.2.3 暗电流噪声计数率及测量方法 | 第60-61页 |
| 5.2.4 时间特性及测量方法 | 第61-64页 |
| 5.2.5 增益非线性及测量方法 | 第64-66页 |
| 5.2.6 稳定性 | 第66页 |
| 5.3 光电倍增管性测试装置 | 第66-71页 |
| 5.3.1 实验装置 | 第66-68页 |
| 5.3.2 数据获取和处理 | 第68-71页 |
| 第六章 WCDA读出性能的设计及改进 | 第71-100页 |
| 6.1 设计思路 | 第71-72页 |
| 6.2 初步设计 | 第72-78页 |
| 6.2.1 电路设计 | 第72-73页 |
| 6.2.2 性能测量 | 第73-78页 |
| 6.2.3 初步设计电路的总结 | 第78页 |
| 6.3 改进后设计 | 第78-90页 |
| 6.3.1 改进的电路设计 | 第78-79页 |
| 6.3.2 性能测量 | 第79-89页 |
| 6.3.3 总结 | 第89-90页 |
| 6.4 第三版设计 | 第90-100页 |
| 6.4.1 电路设计 | 第90-91页 |
| 6.4.2 性能表现 | 第91-99页 |
| 6.4.3 总结 | 第99-100页 |
| 第七章 光电倍增管的批量测试 | 第100-111页 |
| 7.1 外观检查 | 第100页 |
| 7.2 老化 | 第100页 |
| 7.3 性能批量测试 | 第100-104页 |
| 7.3.1 暗箱 | 第101页 |
| 7.3.2 电子学系统 | 第101-102页 |
| 7.3.3 测试仪器 | 第102-103页 |
| 7.3.4 控制系统 | 第103-104页 |
| 7.4 批量测试中的稳定性 | 第104页 |
| 7.5 批量测试工作的进展 | 第104-109页 |
| 7.6 批量测试的下一步计划 | 第109-111页 |
| 第八章 总结和展望 | 第111-113页 |
| 附录A 单光电子谱拟合程序 | 第113-124页 |
| 参考文献 | 第124-129页 |
| 致谢 | 第129-130页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第130页 |