基于边沿效应的高精度相位差测量技术
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-19页 |
| 1.1 课题研究背景和意义 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外发展动态 | 第16页 |
| 1.3 论文工作安排 | 第16-19页 |
| 第二章 常用的几种相位比对方法 | 第19-25页 |
| 2.1 零示法相位差测量 | 第19-20页 |
| 2.2 示波器法相位差测量 | 第20-21页 |
| 2.3 电压法 | 第21页 |
| 2.4 时间间隔法 | 第21-24页 |
| 2.5 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 时频信号间相位关系规律的研究 | 第25-33页 |
| 3.1 基本概念 | 第25-29页 |
| 3.2 群相位理论 | 第29-31页 |
| 3.3 本章小结 | 第31-33页 |
| 第四章 边沿效应 | 第33-41页 |
| 4.1 边沿效应 | 第33-34页 |
| 4.2 边沿效应及其验证 | 第34-38页 |
| 4.3 边沿效应的广泛应用 | 第38-39页 |
| 4.4 本章小结 | 第39-41页 |
| 第五章 基于边沿效应的相位差测量系统设计 | 第41-63页 |
| 5.1 基于边沿效应的相位差测量原理 | 第41-43页 |
| 5.2 总体则量方案的及各模块的设计 | 第43-56页 |
| 5.2.1 信号处理模块 | 第43-44页 |
| 5.2.2 相位同步检测电路及门时产生 | 第44-50页 |
| 5.2.3 频率合成模块 | 第50-52页 |
| 5.2.4 单片机的控制模块 | 第52-56页 |
| 5.3 硬件电路设计 | 第56-59页 |
| 5.3.1 电源模块 | 第56-57页 |
| 5.3.2 FPGA部分 | 第57-58页 |
| 5.3.3 单片机部分 | 第58-59页 |
| 5.4 电磁兼设计 | 第59-62页 |
| 5.4.1 器件选择 | 第60-61页 |
| 5.4.2 元器件布局设计 | 第61-62页 |
| 5.4.3 电路板布线设计 | 第62页 |
| 5.5 本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 实验数据及误差分析 | 第63-71页 |
| 6.1 实验数据分析 | 第63-68页 |
| 6.2 误差分析 | 第68-70页 |
| 6.3 本章小结 | 第70-71页 |
| 第七章 结论和展望 | 第71-73页 |
| 7.1 研究结论 | 第71页 |
| 7.2 研究展望 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 作者简介 | 第79-80页 |
