一种电子装备表面粗糙度的重构方法研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-22页 |
| ·研究背景及意义 | 第16-17页 |
| ·表面粗糙度建模与重构问题的国内外研究概况 | 第17-20页 |
| ·表面粗糙度建模问题的国内外研究概况 | 第17-18页 |
| ·表面粗糙度重构问题的国内外研究概况 | 第18-20页 |
| ·本文主要工作 | 第20-22页 |
| 第二章 一维表面粗糙度建模 | 第22-32页 |
| ·引言 | 第22页 |
| ·一维周期粗糙度模型 | 第22-23页 |
| ·一维高斯随机粗糙表面形貌参数 | 第23-25页 |
| ·高度起伏概率密度函数 | 第23页 |
| ·高度起伏均方根 | 第23-24页 |
| ·相关长度 | 第24-25页 |
| ·功率谱密度 | 第25页 |
| ·一维高斯随机粗糙表面形貌的蒙特卡洛法建模 | 第25-27页 |
| ·一维分形粗糙度建模 | 第27-31页 |
| ·维尔斯特拉斯（Weierstrass）分形函数 | 第27-29页 |
| ·一维W-M分形粗糙度模型 | 第29-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 一维粗糙表面形貌的电磁正散射理论 | 第32-42页 |
| ·引言 | 第32页 |
| ·矩量法基本原理 | 第32-34页 |
| ·矩量法在一维粗糙表面形貌电磁散射中的应用 | 第34-37页 |
| ·源项和谱振幅的矩量法计算 | 第37-40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 第四章 一维粗糙表面形貌的重构 | 第42-64页 |
| ·引言 | 第42页 |
| ·一维高斯随机粗糙表面形貌重构算法 | 第42-50页 |
| ·高斯随机粗糙表面形貌的源项与谱振幅 | 第42-47页 |
| ·数值仿真结果与讨论 | 第47-50页 |
| ·一维分形粗糙表面形貌的重构算法 | 第50-62页 |
| ·分形函数的分数阶微积分原理 | 第50-51页 |
| ·分形粗糙表面形貌的源项与谱振幅 | 第51-53页 |
| ·数值仿真与结果分析 | 第53-59页 |
| ·实验测试数据的分形重构与结果分析 | 第59-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 第五章 二维粗糙表面的重构 | 第64-72页 |
| ·引言 | 第64页 |
| ·二维高斯随机粗糙表面的建模 | 第64-66页 |
| ·二维高斯随机粗糙表面的重构方法 | 第66-70页 |
| ·本章小结 | 第70-72页 |
| 第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
| ·论文总结 | 第72页 |
| ·下一步工作展望 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |
| 作者简介 | 第80-81页 |
