摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
目录 | 第7-10页 |
第一章 绪论 | 第10-16页 |
·产品测量技术概述 | 第10-11页 |
·公差相关要求在 CAT 系统应用中存在的问题 | 第11-12页 |
·公差相关要求应用的研究现状 | 第12-14页 |
·公差相关要求在 CAT 中的研究现状 | 第12-13页 |
·本课题的前期工作 | 第13-14页 |
·研究目标和研究内容 | 第14页 |
·本文研究目标 | 第14页 |
·本文研究内容 | 第14页 |
·文章结构 | 第14-16页 |
第二章 公差原则和几何公差标注规范解释 | 第16-26页 |
·公差的基本原则 | 第16-20页 |
·公差独立原则 | 第16页 |
·公差相关要求 | 第16-20页 |
·公差原则应用规范解释 | 第20-21页 |
·几何公差标注技术的应用规范解释 | 第21-24页 |
·公差原则在工程图纸中的应用 | 第21页 |
·几何公差信息在 CAD 中的应用 | 第21-23页 |
·UG NX 系统的公差标注模块介绍 | 第23-24页 |
·几何公差信息的标注规范要求 | 第24-25页 |
·本章小结 | 第25-26页 |
第三章 模拟基准要素的概念及基准参考框架的建立方法 | 第26-36页 |
·基准参考框架的定义 | 第26页 |
·模拟基准要素的概念 | 第26-29页 |
·模拟基准要素的定义 | 第26-27页 |
·模拟基准要素边界的确定 | 第27-28页 |
·模拟基准要素的边界与基准优先级的关系 | 第28-29页 |
·设计模拟基准要素与测量模拟基准要素的位置关系 | 第29页 |
·模拟基准要素信息的存储数据结构 | 第29-33页 |
·模拟基准要素参数数值的计算 | 第30-32页 |
·模拟基准要素信息的存储技术 | 第32-33页 |
·基准参考框架的建立原理 | 第33-35页 |
·本章小结 | 第35-36页 |
第四章 基于 UG7.5 软件平台的产品制造信息提取技术 | 第36-44页 |
·UG 二次开发系统简介 | 第36-37页 |
·尺寸和公差信息的三维标注方法 | 第37-40页 |
·尺寸信息三维标注 | 第38-39页 |
·几何公差信息的标注 | 第39-40页 |
·公差信息的自动提取技术 | 第40-43页 |
·几何尺寸信息和尺寸关联信息的提取 | 第40-42页 |
·几何公差信息提取 | 第42页 |
·基准信息提取 | 第42-43页 |
·目标要素几何公差的信息提取 | 第43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
第五章 被测目标要素基准参考框架的自动生成技术 | 第44-60页 |
·基准遵循最大实体要求下被测要素的设计 DRF 的自动生成方法 | 第44-50页 |
·公差最大实体实体要求条件下模拟基准要素的变动情况 | 第44-46页 |
·被测要素的测量基准与模拟基准要素之间的关系 | 第46-48页 |
·设计 DRF 与测量 DRF 之间运动关系的机构表示模型 | 第48-49页 |
·模拟基准要素位置的蒙特卡洛模拟 | 第49-50页 |
·最大实体要求下设计基准参考框架相关信息的存储与提取技术 | 第50-51页 |
·应用实例一分析 | 第51-53页 |
·实例介绍 | 第51-52页 |
·被测要素关联基准信息的提取 | 第52页 |
·模拟基准要素的建立 | 第52-53页 |
·模拟基准要素在实际测量基准条件下的位置变化 | 第53页 |
·应用实例二分析 | 第53-59页 |
·实例介绍 | 第53-54页 |
·被测要素关联基准信息的提取 | 第54页 |
·模拟基准要素的建立 | 第54-55页 |
·蒙特卡洛模拟基准要素在实际测量基准条件下的位置变化 | 第55-59页 |
·本章小结 | 第59-60页 |
第六章 总结和展望 | 第60-63页 |
·总结 | 第60-61页 |
·展望 | 第61-63页 |
致谢 | 第63页 |
参考文献 | 第63-65页 |